Foto-iletkenlik ölçüleri için uygun silisyum numunelerin hazırlanması
Abstract
ÖZET Bu çalışmanın amacı fotciletkenlik ölçüleri için yara-iletken kristal numunelerin nasırlanma sı ve hazırlanan numunelerin I-V karakteristikle rinin incelenmesidir* Kristaller yarı-iletken teknolojisinde kulla-» nılan araç ve gereçlerle kesildiler*, Mekanik yön temlerle parlatıldılar.. Kicyasaİ (etch.) olarak aşındı rıldıl ar. Hazırlanan numunelere uygun kontakt* lar konuldu* Numunelerin i-v karakteristikleri çimilerek kontaktlarm durumları incelendi»
Collections
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess