Browsing TEZLER by Subject "X ray fluorence technique"
Now showing items 1-6 of 6
-
Atom numarası 59-92 arasında olan bazı elementler için L tabakasına ait coster-kronig şiddetlendirme faktörlerinin ölçülmesi
(ATATÜRK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)Si(Li) katıhal dedektörü kullanılarak 59 <Z < 92 arasında olan (Pr, Nd, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Yb, Hf, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Th, U) 18 element için 6.490 keV'dan 22.072 keV'a kadar değişen 25 farklı ... -
Dış manyetik alanda geçiş metal alaşımlarının k tabakası x-ışını şiddet oranları ve valens elektron yapılarının belirlenmesi
(ATATÜRK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)Bu çalışmada, Fe-Ni geçiş metal alaşımlarının valens elektron yapıları üzerine dış manyetik alanın etkisi, çeşitli alaşım bileşimlerinin Kß/K? X-ışını şiddet oranları vasıtasıyla araştırıldı.İlk olarak, Fe, Ni ve Fe_x ... -
Enerji ayrımlı X-ışını flöresans spektrometresi ile dedeksiyon limitinin tayini
(ATATÜRK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)Bu çalışmada enerji ayrımlı X-ışını flöresans spektrometresi kullanılarak farklı numunelerde dedeksiyon limiti üzerine analiz zamanı etkisi deneysel olarak araştırılmıştır. X-ışını spektrumları Si(Li) dedektörle Camberra ... -
Pb elementinin L tabakası X-ışını flöresans şiddetleri üzerine matris etkileri
(ATATÜRK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)Bu çalışmada, Pb elementinin L tabakası X-ışını şiddetleri üzerine matris etkileri incelenmiştir. Analit olarak Pb ve matris olarak K tabakası soğurma kıyıları Pb elementinin karakteristik L X-ışını enerjilerinin hemen ... -
Tavlama sıcaklığı, basınç ve dış manyetik alanın şekil hafızalı nanoalaşımların x-ışını şiddet oranları ve valens elektron yapıları üzerine etkilerinin incelenmesi
(ATATÜRK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)Bu doktora tez çalışması dört aşamadan oluşmaktadır. Birinci aşamada, TiNi şekil hafızalı nanoalaşımların (ŞHNA) çeşitli kompozisyonları (TixNi1-x, x=0; 0,3; 0,4; 0,5; 0,6; 0,7; 1) farklı sıkıştırma basıncı (370 MPa, 740 ... -
Toz halindeki numunelerde XRF tekniği ile konsantrasyon tayininde parçacık büyüklüğünün etkisi
(ATATÜRK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)ÖZET X-ismi floresans (XRF) tekniği, günümüzde elementel analiz için kullanılan en yaygın ve en verimli bir metoddur. Bu teknik, dalga boyu dispersiv analiz (WDXRF) ve enerji dispersiv analiz (EDXRF) olmak üzere iki kısımdan ...