Enerji ayrımlı X-ışını flöresans spektrometresi ile dedeksiyon limitinin tayini

Abstract

Bu çalışmada enerji ayrımlı X-ışını flöresans spektrometresi kullanılarak farklı numunelerde dedeksiyon limiti üzerine analiz zamanı etkisi deneysel olarak araştırılmıştır. X-ışını spektrumları Si(Li) dedektörle Camberra DSA?1000 spektrum analizörü kullanılarak elde edilmiştir. Spektrometrenin enerji rezolüsyonu 5,9 keV'de 160 eV'tur. Bu prosedür, Am?241 radyoaktif nokta kaynağından yayınlanan 59.5 keV'lik ve Cd?109 radyoaktif nokta kaynağından yayınlanan 22.1 keV'lik fotonlar için flöresans şiddetinin ölçümüne dayalıdır. Havadan ve numune tutucularından saçılma ve temel sayma (background) katkısını tayin etmek için numunesiz ölçümler alınmıştır.

In this study, analysis time on detection limit in different samples were experimantally investigated by using energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer. X-ray spectra was collected using a Si(Li) detector with Camberra DSA?1000 desktop spectrum analyser. The energy resolation of the spectrometer is 160 eV at 5,9 keV. This procedure is based on the measurement of fluorescent intensity for 59,5 keV photon emitted from Am?241 radioactive point source and 22,1 keV photon emitted from Cd?109 radioactive point source. To determinate the contributions of the background and scattering from sample holder and wheather, measurements without sample were performed.