X-ışınları kırınım verileri değerlendirme bilgisayar programı yazılımı

Abstract

X-ISINLARI KIRINIM VERİLERİ DE?ERLENDİRME BİLGİSAYAR PROGRAMI YAZILIMI ( Yüksek Lisans Tezi ) Yusuf ÖZÇATALBAŞ GAZI ÜNİVERSİTESİ FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ Eylül 1988 ÖZ Türkiye'de kullanılan kırınım cihazlarının büyük bir çoğunluğunda bilgisayar sistemi bulunmamaktadır. Bu sebeple, yapılan kırınımların sonuçlandırılması hayli güç olmakta ve uzun zaman almaktadır. Bu problem göz önüne alınarak, x-ışınları kırınım tayfından yapının ve malzeme yapı parametrelerinin bilgisayar destekli çözülmesi amaçlanmıştır. Bu amaç, GW-BASIC dilinde hazırlanan programla gerçekleştirilmiştir, ilk aşamada 180 adet JCPDS kırınım veri kartı sırasız erişimli kütüğe yüklenmiş ve istenirse ek kayıt yapılması sağlanmıştır. Kırınım uygulanan numunenin yapısının ve paremetrelerinin çözümünde, girilen bu veriler esas alınmıştır. Buradan hareketle, Hanawalt metodunun uygulanması sonucu uygun kart seçimi yapılmıştır. Programın çalıştırılması sırasında operatörden kaynaklanacak her türlü hata düşünülmüş olup, bunların önlenmesi için mümkün olan tedbirler alınmıştır. Numuneye ait seçilen kart ekrana orjinal formatında gelmekte ve operatörün isteğine bağlı olarak aynı formatta printerden kartın çıktısı alınmaktadır. II

SOFTWARE DEVELOPMENT FOR THE ANALYSES OF X-RAY DIFFRACTION DATA (M.Sc. Thesis) Yusuf ÖZÇATALBAŞ GAZI UNIVERSITY INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY September 1988 ABSTRACT Most of the X-Ray Diffraction systems used in Turkey don't have a computer system. For this reason, the processing of the data is more difficult and takes more time. To overcome this problem, use of a GU-BASIC computer program was planned to determine the structure and tha parameters of materials. In the first stage 180 JCPDS diffraction data cards had been loaded in a random access file to the computer. In the program the position and intensity of the peaks obtained by XRD are loaded to the computer and thus the lattice parameters and structures of the specimens are obtained. Then using the Hanawalt method, suitable cards are chosen. The possible personnel errors vere considered and some necessary precautions were taken to prevent them. The diffraction data card of the specimen appears in its original format on the screen and can be printed in the same format. Ill