Now showing items 1-1 of 1

    • Aging in CMOS circuits and circuit design robust to aging phenomena 

      Afacan, Engin (BOĞAZİÇİ ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)
      Bu çalışmada, CMOS devrelerde yaşlanma sorunu araştırılmış ve bu sorunun CMOS devrelerindayanıklılığına olan etkisi bir analog devre üzerinde güvenilirlik testleri gerçekleştirerek incelenmiştir.Doğada bulunan herşey gibi ...