Deney tasarımında optimal blok yapıları

Abstract

Deney tasarımı teorisinde bloklama, sistematik gürültüyü azaltmak ve etki tahmininin doğruluğunu artırmak amacıyla yaygın olarak kullanılmaktadır. Tasarımların optimal yolla nasıl bloklanacağı ise, uygulamada büyük önem taşımaktadır.Bu çalışmada, çok etkenli ve 2 düzeyli kesirli çok etkenli tasarımlar hakkında bilgi verilmiş; çözüm ve en az sapma kavramları, tanımlayıcı bağıntı alt grupları, blok ve deneme kelime uzunluğu yapıları tanıtılmıştır.Bloklanmış kesirli ve çok etkenli tasarımların seçiminde kullanılan var olan optimallik ölçütleri araştırılmış; tasarımları tanımlayıcı bağıntı alt grupları ve kelime uzunluğu yapılarını kullanmadan karşılaştıran en az moment sapma ölçütü incelenmiştir.Çalışmanın uygulamasında; Sun, Wu ve Chen'in optimal blok yapıları katalogundaki tasarımlar incelenmiş; optimal blok yapısının bulunması için en iyi yöntem seçilmiş ve nedenleri açıklanmıştır.Anahtar Kelimeler: Çok Etkenli Tasarımlar, Kesirli Çok Etkenli Tasarımlar, Kelime Uzunluğu Yapıları, En Az Sapma, Optimal Blok Yapısı.

Blocking is commonly used in design of experiments theory to reduce systematic noise and increase precision of effect estimation. How to block designs in an optimal way has a great importance in practice.In this study, some information are given about factorial and two-level fractional factorial designs. Concepts of resolution and minimum aberration, defining relation contrasts, block and treatment word length patterns are introduced.Existing optimality criterias for choosing blocked factorial and fractional factorial designs and minimum moment aberration which compares designs without using defining relation contrasts and word length patterns are examined.In the application of this study, designs given in the catalogue of optimal blocking schemes, provided by Sun, Wu and Chen, are examined. The best method of finding optimal blocking schemes is chosen and the reasons of choice are explained.Key Words: Factorial Desings, Fractional Factorial Designs, Word Length Patterns, Minimum Aberration, Optimal Blocking Schemes.