Now showing items 1-1 of 1

    • Statistical cryogenic modeling methodology of MOSFET DC characteristics in BSIM3 

      Kabaoğlu, Aykut (İSTANBUL TEKNİK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2020-01-22)
      Elektronik devre tasarımları bilgisayar destekli benzetim programları aracılı˘gıylatest edilirken endüstriyel model standartları kullanılır ve bu standartlar transistörseviyesinde hesaplamalar yaparak istenilen çıktıları ...