Platin elektrot yüzeyinin kromat iyonu ile kısmi inhibisyonu yöntemi kullanılarak mikro ve nano gözenekli elektrot dizilerinin hazırlanması
- Global styles
- Apa
- Bibtex
- Chicago Fullnote
- Help
Abstract
Bu çalışmada ticari olarak temin edilen mikro boyuttaki platin elektrot ile dönüşümlü voltametri (CV) ve doğrusal taramalı voltametri (LSV) yöntemleri uygulanarak yüzey düzgünlüğünün tespit edilmesinde kullanılacak yöntem belirlenmiştir. Dönüşümlü voltametri yöntemi kullanılarak kaplama için gerekli parametreler optimize edilmiştir. Lazer çekme yöntemi ile mikro ve nano gözenekli platin elektrotlar üretilmiştir. Üretilen elektrotların görüntüleri elde edilmiştir. Ticari olarak temin edilen ve üretilen mikro ve nano elektrotların, ferrosen ortamında alınan voltamogramlarına ait akımlar yardımı ile yaklaşık yarıçap büyüklükleri hesaplanmıştır. Ticari, mikro ve nano gözenekli platin elektrotlar dönüşümlü voltametri yöntemi kullanılarak kromat iyonu kaplaması yapılmıştır. Ticari, mikro ve nanoelektrot dizilerine ait potansiyel-akım değerleri karşılaştırılmıştır. Taramalı elektron mikroskopu (SEM) ile nanoelektrotların yüzey görüntüleri alınmıştır. In this study, use of a method was determined for the surface smoothness identify by applying cyclic voltammetry (CV) and linear scanning voltammetry (LSV) methods commercially available micro-sized platinum electrode. The parameters needed for coating was optimized using the cyclic voltammetry method. Micro and nano porous platinum electrodes were produced by laser pulling method. Images of the produced electrodes were obtained. Commercially available and produced micro and nano electrodes about radius magnitudes were calculated with the help of the currents from the voltamograms taken in ferrocene environment.Commercial and micro and nano porous platinum electrodes were coated with chromate ion by cyclic voltammetry method. The potantial-currents of commercial, micro and nano electrode arrays were compared. Surface images of nanoelectrodes were obtained by scanning electron microscopy (SEM).
Collections