Magnetic anisotropy studies on ferrite films

Abstract

FERRÎT FİLMLERDE MAGNETİK ANİZOTROPİ İNCELEMELERİ Zübeyir SAĞÖZEN Master Tea, 2000 Tez Danışmanı: Prof. Dr. Bekir Aktaş ÖZET Magnetik kayıt teknolojisinde yaygın olarak kullanılan ferrit malzemelerden elde edilen ince filmlerin magnetik anizotropileri araştırıldı. Filmler rf. sputtering tekniği ile epitaksiyel olarak tek kristal MgO alttaşlan üzerine hazırlandı. 50 ila 3000 Angstrom aralığında çeşitli kalınlıklarda hazırlanan filmlerin magnetik anizotropileri ferromagnetik resonance (FMR) yöntemi ile çalışıldı. FMR spektrumlan oda sıcaklığından başlamak üzere sıvı helyum sıcaklıklarına kadar geniş bir sıcaklık aralığında kaydedildi. Hem FMR spektrumlannın çizgi şekilleri ve hem de rezonans alanlarının sıcaklığa çok sıkı şekilde bağlı olduğu görüldü. Ayrıca sözü edilen parametrelerin film kalınlığına da sıkı bir bağımlılık gösterdiği gözlendi. Film yapısındaki örneklerin bulk olarak hazırlanan örneklere göre bu denli değişmesi exchange anizotropisine atfedildi. Stökiyemetrede mükemmelden küçük bir oranda sapmamn yukarıda sözü edilen etkilere neden olabileceğinin literatürde gözlendiği gerçeği ile elde edilen sonuçların tutarlı olduğu gözlendi. Son olarak yukarıda sözü anlatılan özelliklerin magnetik kayıt teknolojisindeki parametreleri nasıl etkilediği tartışıldı.

IV MAGNETIC ANISOTROPY STUDIES ON FERRTTE FILMS Zübeyir SA?ÖZEN Master Thesis, 2000 Advisor : Prof. Dr. Bekir Aktaş ABSTRACT Thin films of ferrite materials used in magnetic recording technology widely has been investigated. Films have been grown on single crystal sublattice MgO epitaxially. The magnetic anisotropics of the films whose thicknesses are between 50 and 3000 Angstrom have been investigated by ferromagnetic resonance (FMR). FMR spectrums have been recorded on a wide range of temperature beginning from liguid helium temperature up to room temperature. Temperature dependence of both line shapes of FMR spectrums and resonance fields has been observed. Beside that the dependence of this parameters to film thickness has also been observed. Also some of the films have been coated with some magnetic materials and the same measurements have been repeated. The surface and bulk anisotropics of the films, especially the ones coated with CoO, have been observed to increase. These differences between the film samples and bulk samples have been attributed to exchange anisotropy. The phenomenon that small amounts of deviation from perfectness in stociometry results in those effects mentioned above have been seen in literature recently. Finally how all of the properties mentioned above affect the parameters in magnetic recording technology has been discussed.