Enerji dispersiv X-ışını tekniğinde MoK alfa ve MoK beta için öz soğurma düzeltmesi

Abstract

Bu çalışmada foton uyarmalı x- ışını spektrometresi kullanılarak molibden levhalar için deneysel özsoğurma katsayıları kalınlığa bağlı olarak bulunmuştur. Spektrumların alınmasında 5,9 keV 'de yarı maksimumdaki tam genişliği 190 eV olan bir Ge(Li) sayacı ile irtibatlı ND-66B çok kanallı analizörü kullanılmıştır. Spektral analizlerde temel sayma hesaba katılmıştır. Ayrıca aynı deney geometrisinde farklı kalınlıktaki molibden levhalarla geçme (transmission) ölçümleri yapılmıştır. Özsoğurma katsayılarının teorik ve deneysel olarak bulunan değerlerinin, levha kalınlığına karşı çizimlerinden elde edilen r2 değerleri, bu çalışmada teklif edilen metodun daha iyi sonuç verdiğini göstermiştir.

In this study self-absorption coefficients are found out dependent on the sample thickness of molybdenum foils by using a photon excited x- ray spectrometer. The data were collected by a Ge(Li) detector (full-with at half maximum 190 eV for 5,9 keV) coupled to an ND 66B multi-channel analyser. The background substraction are included the calculations of the spectral analysis. On the other hand photon transmission from the molybdenum samples of different thickness are measured at the same experimental geometry. Theoritical and experimental values of self-absorption correction coefficent are drown versus sample thickness and the iineer regression coefficent r2 are obtained. The comparation of the r2 values shows that the present experimental method gives the better results than the theoritical calculation for the self-absorption correction coefficient.