X-ışını fluoresans tekniğinde dairesel numunelerle şiddet dağılımının ölçülmesi ve Monte Carlo yaklaşımı

Abstract

Kalitatif ve Kantitatif analiz amaçlı x-ışını spektîoskopi çalışmalarında, uygun ölçü geometrisi kurulmasının önemi büyüktür. Bu çalışmada, ince molibden levhalarından hazırlanan uygun numuneler kullanılarak relatif fluoresans şiddetin a) numunenin yarıçapına, b) kolimatör yarıçapına ve c) kaynak-numune mesafesine göre değişimi Monte Carlo simülasyon metodu ile hesaplanmıştır. Bu sonuçların sınanması için, uygun deney geometrileri ve numuneler hazırlanmıştır. Numunelerin uyarılmasında 241Am halka kaynağı ve fotonlarm sayılmasında Ge(Li) sayacı kullanılmıştır. Numune boyunca uyarma şiddetinin düzgün (uniform) olmasına rağmen, dedektör tarafından sayılan fluoresans şiddetin düzgün olmadığı görülmüştür. Fluoresans şiddetin numune yarıçapına, kolimatör yarıçapına ve kaynak-numune mesafesine göre değişimi deneysel yoldan da bulunarak bunların Monte Carlo simülasyon metodu ile bulunanlarla uyum içinde oldukları görülmüştür.

The setting up, the convenient measurement geometry is very important for the qualitative and quantitative analysis, in the x-ray spectroscopic studies. in this study, the change of relative fluorescence intensity due to radius of the sample and collimator and the source-sample distance has been calculated by using the Monte Carlo simulation method by using molybdenum samples prepareted from thin plates. The convenient experimental geometries and the samples have been prepareted for the comparison of the results. In the excitation of the samples an annular 241 Am source is used and the photons are detected by a Ge(Li ) detector. It is found out that the fluorescence intensity is not uniform through the sample surface although the excitation intensity is uniform through the sample surface. Observed change of fluorescence intensity due to the radius of the sample, radius of the collimator and the source-sample distance is in good agreement with the results obtained from Monte Carlo method.