Si(Li) dedektörü ile bazı elementlerin L X-ışını diferansiyel tesir kesitlerinin ölçülmesi

Abstract

Bu tezde, atom numarası 70 < Z < 92 aralığında olan bazı elementlerin L£, La, L0 ve Ly X-ışınları diferansiyel tesir kesitleri ölçülmüştür. L X-ışınlarının açısal dağılımım gözlemlemek için deney geometrisinin müsaade ettiği 45° ile 135° aralığında 10 farklı saçılma açısı kullanılmıştır. Ayrıca, aynı elementlerin Lt, La, LJ3 ve Ly X-ışınları floresans tesir kesitleri de hesaplanmıştır. Numuneler, 100 mCi şiddetindeki Am-241 nokta kaynağından yayınlanan 59,54 keV'lik y-ışınları kullanılarak uyarılmıştır. Numuneden yayınlanan karakteristik L X-ışınlan, yüksek rezolüsyonlu (5,96 keV'de yarı maksimumdaki tam genişliği 160 eV) bir Si (Li) katıhal dedektörü ile bağlantılı ND 66 B çok kanallı puis yükseklik analizörü ile sayılmıştır. Hesaplanan deneysel Li, La, LP ve Ly X-ışınları floresanas tesir kesitleri, teorik sonuçlarla ve diğer bazı araştırmacıların deneysel değerleri ile karşılaştırılmıştır.

In this thesis, L£, La, L0 and Ly X-rays differential cross-sections of some elements in the atomic range 70 < Z < 92 have been measured. To observe the angular distribution of L X-rays 10 different scattering angles in the range 45°- 13 5° in which the experimental geometry allowed, have been used. Furthermore, the fluorescence cross-sections of L£, La, LP and Ly X-rays of the same elements have been also calculated. The samples were excited by using 59,54 keV y-rays from a point source Am-241 having 100 mCi intensity. The characteristic L X-rays emitted from the samples were counted by high resolution (FWHM=160 eV at 5,96 keV) a Si (Li) solid state detector coupled to a ND 66 B multichannel pulse height analyzer system. The calculated experimental L£, La, L(3 and Ly X-rays fluorescence cross-sections, have been compared with theoretical results and the experimental values of some other researchers.