WDXRF spektroskopide tablet numune hazırlamada hata etkileri

Abstract

ÖZET Yüksek Lisans Tezi WDXRF SPEKTROSKOPİDE TABLET NUMUNE HAZIRLAMADA HATA ETKİLERİ Faruk DEMİR Atatürk Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Fizik Anabilim Dalı Danışmanı: Doç. Dr. Gökhan BUDAK X-ışını flöresans tekniğine göre çalışan otomasyon aletleri son yıllarda çok önem kazanmıştır. Bunların arasında bulunan dalga boyu ayırımlı X-ışını flöresans (WDXRF) spektrometreler sanayiye yönelik kalite ve kontrol analizlerinde oldukça yaygın olarak kullanılmaktadır. Bugün çeşitli firmalarca üretilmiş çok hassas WDXRF spektrometreler element analizlerinde kullanılmasına rağmen uygun olmayan numune hazırlama şartları analiz sonuçlarını olumsuz yönde etkilemekte ve konsantrasyon tayinlerinde oldukça büyük hatalara sebep olmaktadırlar. Birinci kısımda amaç, bu sistemlerle ölçülen şiddet, konsantrasyon, dedeksiyon limiti ve açı değerleri için sistem hassasiyetini test etmek, tablet numune yapılırken, numuneye uygulanan basınç, parçacık büyüklüğü ve karışım süresine göre bu parametrelerdeki değişimleri araştırmaktır. İkinci kısımda amaç, tablet numune hazırlanırken parçacık büyüklüğünün hangi şartlardan geçirilerek hazırlanmasının daha iyi sonuçlar vereceğinin tespitidir. Birincisi, birbirinden bağımsız olarak eleme yapmak, ikincisi ise elekleri üst üste koyarak eleme yapmaktır. Bu çalışmada ZSX- 1000e model WDXRF spektrometre kullanıldı. Numune olarak PKÇ 32,5 R Portland Kompoze çimento nihai ürünü kullanıldı. Değerlendirmelerimiz farklı 7 element ve bunların Ka çizgileri kullanılarak yapıldı. Sonuç olarak parçacık büyüklüğü, basınç ve karışım süresi etkileri belirlenerek sonuçlar yorumlandı. 2004, 81 Sayfa Anahtar Kelimeler: WDXRF, elek, basınç, karışım süresi, tablet numune

ABSTRACT Master Thesis THE ERROR EFFECTS in PREPARING TABLET SAMPLE for WDXRF SPECTROSCOPY Faruk DEMİR Atatürk University Faculty of Arts and Sciences Department of Physics SupervisonAssoc. Prof. Dr. Gökhan BUDAK In analyzing of elements, the automatic apparatuses working with respect to X-rays fluorescence technique have gained great importance in recent years. One of them, wavelength dispersive X-rays fluorescence spectrometers (WDXRF) have been commonly used in quality control analyses in industry. Now, there are a lot of very sensitive WDXRF spectrometers produced by various companies, which are being used to analyze the elements. However, non- proper methods of sample preparing affect the experimental results considerably and cause large errors in concentration calculations. The main object of the first section is to test the system precision in measuring of intensity, concentration, detection limits and angle values and to investigate the variations in parameters of pressure, the magnitude of particles and mixture time. In second section, we will try to find out which processes are the best for tablet sample preparing. First of all is to sift individually and second of all to sift by laying one of the sieves on top of the other. In this study, ZSX-IOOOe model of WDXRF spectrometer is used. As a sample, PKÇ 32.5 R Portland Kompoze cement product is used. Our assessments are carried out using 7 different elements and their Ka lines. Finally, we determined the effects of particle magnitude, pressure and mixture time on the results and then interpreted them. 2004, 81 Pages Keywords: WDXRF, sieve, pressure, mixture time, tablet sample