Bazı ikili yarı iletkenlerde kontak çalışmaları

Abstract

Geçirgen iletken oksit malzemelerden olan ZnO ve CdO ince filmler, optoelektronik ve fotovoltaik aygıt teknolojisindeki potansiyel uygulamalarından dolayı çok önemli malzemelerdir. ZnO ve CdO ince filmler, Ardışık İyonik Tabakanın yüzeye tutunması ve Reaksiyonu (SILAR) tekniği ve sol-jel tekniği kullanılarak cam taban malzemeler üzerine oda sıcaklığında büyütüldü. Filmlerin yapısal ve optik özellikleri farklı analiz teknikleri ile araştırıldı. X-ışını kırınımı ölçümleri filmlerin polikristal yapıda olduğunu gösterdi. Optik soğurma ölçümleri yardımıyla, filmlerin yasak enerji aralığı değerlerine bakıldı. Bu ince filmler üzerine Leybold Heraeus buharlaştırma sistemi ile Al(Alüminyum), Cu(Bakır), Fe(Demir), Ag(Gümüş), In(Indiyum) buharlaştırıldı. Bu örneklerin I-V ölçümleri yapılarak özellikleri araştırıldı. Kontaklar Omik olarak bulundu.

Transparent conducting oxides, such as ZnO and CdO thin films are very important materials because of their potential applications in optoelectronic and photovoltaic device technology.ZnO and CdO thin films were grown on glass substrates using Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction (SILAR) and sol-gel technique at room temperature. The structural and optical properties of the films were investgated with different analysis techniques. The X-ray diffraction (XRD) measurements showed that the films have polycrystalline structure. Energy band gap of the films were determined through optical absorption measurements. The metal contacts were made on these thin films with Ag (Silver), Al (Aluminium), In(Indium),Cu(Copper), Fe(Iron) by Leybold Heraeus Evaporation system. The contact properties of these films were investigated by I-V measurements. The contact types were found to be ohmic.