X ve gama ışını tepelerinin ve çoklu saçılmaların numune kalınlığına ve ortalama atom numarasına göre değişimi

Abstract

Bu çalışmada, 5 Ci'lik 241Am halka kaynak ve HPGe dedektör kullanılarak 168°'lik saçılma açısında i) farklı kalınlıklı PbO ve HgO numunelerinin Compton, koherent saçılma ve belirlenen karakteristik K ve L x-ışını tepelerinin şiddetlerindeki değişim incelenmiştir, ii) farklı kalınlıklardaki PbO ve HgO numunelerden elde edilen spektrumlarda farklı enerjili tepeler arasındaki temel sayma (background) bölgelerinin şiddet değişimi incelenmiştir, iii) toplam kütle aynı kalmak şartıyla, ortalama atom numaraları farklı olan selülozlu PbO ve HgO numuneleri hazırlanarak, saçılma (Compton ve koherent) ve karakteristik tepelerin şiddetlerindeki değişim incelenmiştir, iv) şiddet oranlarının PbO ve HgO'nun ağırlıklı konsantrasyonu ve matrisin ortalama atom numarasıyla değişimi incelenmiştir, v) farklı kalınlıklı PbO ve HgO numunelerin satürasyon kalınlığı belirlenerek ortalama serbest yollar hesaplanmıştır. Ayrıca, çoklu saçılma kesri ve albedo sayısı, enerjisi ve dozu hesaplanarak, bu niceliklerin numune kalınlığıyla değişimi incelenmiştir.

In this study, using 5 Ci 241Am annular radioactive source and HPGe detector at a scattering angle of 168° i) the variation of intensity of Compton, coherent scattering and some K and L x-ray peaks acquired from PbO and HgO targets in various thickness were investigated, ii) the changes of intensity in the regions between different energy peaks in spectra obteined from PbO and HgO targets in various thickness were examined, iii) the variation of the intensities of the scattering (Compton and coherent) and characteristic peaks versus to mean atomic number were investigated by using the samples having the same weight and prepared by adding the cellulose to the PbO and HgO, iv) the variation of intensity ratios with concentration of the analyte and the mean atomic number of matrix were examined, v) the mean free paths were calculated by determining the saturation thickness of PbO and HgO samples with different thickness. The multiple scattering fraction, the number albedo, the energy albedo, the dose albedo and their variations versus to sample thickness were also investigated for the mentioned samples.