Mikroişleyicili düzeltmeli dielektrik katsayısı ölçüm sistemi

Abstract

îii ÖZET Dielektrik katsayısı maddelerin özelliklerinin anlaşılmasında kullanılan önemli parametrelerden bir tanesidir. Dielektrik katsayısının ayrıca ile tişim ve optik teknolojisinde birçok elemanının yapımında (rezonator; ışın bölücü, lens vs.) bilinmesi gerekir. Bütün bu işlemler için dielektrik katsayısının çok hassas bir şekilde öl çülmesi gerekmektedir. Bu sayede doğru sonuca ulaşabiliriz, kaliteli elemanlar yapabiliriz. Bu çalışmada rezonans yöntemi ile maddelerin 2-18 GHz bandı ndaki yansıma katsayıları ölçülmüş, ölçüm düzenindeki sistematik hatalar mıkroişleyici yardımı ile düzeltilmeye çalışılmıştır. Q faktörünün nasıl hesaplanacağı açıklanmıştır.

İV SUMMARY Dielectric coefficient is one of the important parameter of materials to understand their properties. It must also be known in the communica tion and optical technology to develop and construct elements (such as resonator, beam splitter, lenses). For all this applications, the permittivity should be measured in a very accurate and precise way. Then, we could make right decisions, or we could produce high quality elements/devices. In this thesis, the rezonance method is employed to measure the reflection coefficient of the materials, between 2 GHz and 18 GHz and the systematic errors which are in the measuring system, are corrected by using micro processor. Computation of the quality factor is explained.