Show simple item record

dc.contributor.advisorHamurkaroğlu, Canan
dc.contributor.authorÇalişkan, Derya
dc.date.accessioned2020-12-30T06:57:37Z
dc.date.available2020-12-30T06:57:37Z
dc.date.submitted2006
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/480555
dc.description.abstractBu çalışmanın amacı; lognormal, Weibull ve gamma çarpık dağılımları için klasik,ağırlıklı varyans, ağırlıklı standart sapma ve düzeltilmiş çarpıklık yöntemlerinedayalı X ve R kontrol kartlarının kontrol limitlerini elde ederek, yöntemleri farklı altgrup büyüklükleri için 1. tip hata ortalamaları açısından karşılaştırmaktır.İkinci Bölüm'de istatistiksel süreç kontrolü hakkında genel bilgi verilmiştir.Üçüncü Bölüm'de çarpık dağılımlar için klasik, ağırlıklı varyans, ağırlıklı standartsapma ve düzeltilmiş çarpıklık yöntemleri hakkında bilgi verilmiştir.Dördüncü Bölüm'de lognormal, Weibull ve gamma dağılımları incelenmiştir.Beşinci Bölüm'de simülasyon çalışmasının aşamaları hakkında bilgi verilmiştir.Son Bölüm'de çalışmada ele alınmış yöntemler karşılaştırılarak sonuçlarverilmiştir.Anahtar Kelimeler: İstatistiksel Süreç Kontrol, Shewhart Kontrol Kartları, AğırlıklıVaryans Yöntemi, Ağırlıklı Standart Sapma Yöntemi, Düzeltilmiş çarpıklık Yöntemi,Lognormal, Weibull ve Gamma Dağılımları.Danışman: Yrd.Doç.Dr. Canan Hamurkaroğlu, Hacettepe Üniversitesi, İstatistikBölümü, İstatistik Teorisi Anabilim Dalı.i
dc.description.abstractThe aim of this study is to compare the false alarm rates of X and R controlcharts based on the classic, weighted variance, weighted standart deviations andskewness correction methods with respect to different subgroup sizes for skeweddistributions which are Weibull, gamma and lognormal.In second chapter, statistical process control is mentioned.In third chapter, classic, weighted variance, weighted standard deviations andskewness correction methods in the concept of X and R control charts for skeweddistributions are explained.In fourth chapter, lognormal, Weibull and gamma distributions are given.Finally, these mentioned methods are compared using the results of Monte Carlosimulations, given in the fifth part of the study. So the results of this study arepresented and discussed.Keywords: Statistical Process Control, Shewhart Control Charts, WeightedVariance Method, Weighted Standard Deviations Method, Skewness CorrectionMethod, Lognormal, Weibull and Gamma DistributionsAdvisor: Yrd.Doç.Dr. Canan Hamurkaroğlu, Hacettepe University, Department ofStatistics, Statistics Theory Division.iien_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectEndüstri ve Endüstri Mühendisliğitr_TR
dc.subjectIndustrial and Industrial Engineeringen_US
dc.subjectİstatistiktr_TR
dc.subjectStatisticsen_US
dc.titleÇarpık dağılımlar için X ve R kontrol kartları
dc.title.alternativeX and R charts for skewed distributions
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentİstatistik Anabilim Dalı
dc.identifier.yokid157356
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityHACETTEPE ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid182419
dc.description.pages68
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess