İletken metal oksit kaplı cam yüzeylerde elektromanyetik kalkanlama etkinliğinin incelenmesi
- Global styles
- Apa
- Bibtex
- Chicago Fullnote
- Help
Abstract
Kalkanlama etkisi (shielding effectiveness, SE) bir materyali elektromanyetik olarak bir bölgeden başka bir bölgeye ayırmak amacıyla yayılma alanını azaltma yeteneği ile alakalı olan çok önemli yöntemlerden birisidir. Karışık bir materyalin ekranlama kabiliyetini tahmin etmek zor olduğu için genellikle bir takım teknikler kullanılarak ölçülür. Uzak alandaki kaynakları simule etmek için koaksiyel transmisyon hat tutucuları ve zaman kümesi sistemlerinin de aralarında bulunduğu birkaç yaklaşım vardır. Bu çalışmada, kalkanlama etkisini ölçmek için transmiyon tekniği kullanıldı. İletken ve saydam bir tabaka elde etmek için ise farklı metal oksitler ve metal oksitli karışımlar, sprey ve döndürmeli kaplama teknikleri ile cam üzerine püskürtülerek yerleştirildi. Saçılım parametrelerini ölçmek için de deneysel bir düzenek tasarlandı. Optik şeffaf ölçümler spektrometre kullanılarak yapılmıştır. VNA (network analizör) kullanılarak ölçülen saçılım parametreleri yardımıyla kalkanlama etkisi değerleri elde edilmiştir. Shielding effectiveness is one of the very important phoneme that reduces the transmission of propagating fields for electromagnetically isolating one region from the other. Since it is very difficult to predict the shielding capability of a complex material, it usually measured using several different techniques. There are several approaches for simulating far-field source such as coaxial transmission-line holders and a time-domain system. In this work, I have used Transmission technique for measuring shielding effectiveness. Different metal oxides and also metal oxide mixtures with metal oxides to get conductive transparent layer were deposited on glass by spray and spin coating techniques. An experimental set-up was designed to measure scattering parameters. Optical transparency measurements were performed by using a spectrometer. Shielding effectiveness values obtained by using measured scattering parameters.
Collections