Frequency-selective permittivity determination of solid dielectric materials backed by a conductor
- Global styles
- Apa
- Bibtex
- Chicago Fullnote
- Help
Abstract
Düşük kayıplı malzemelerin kısa devre sonlandırması ile karmaşık geçirgelik tespiti için sadece genlik yansıma ölçümlerine dayanan bir yöntem sunduk. Önerdiğimiz bu yöntemin avantajları ve dejavantajları mevcuttur. İlk avantajı, belirli bir frekansa bakıldığı için max ve min frekansları elde edip daha kolay derivasyon yapabiliriz. İkinci avantajı ise hesaplama gerektirmemesidir. Önerilen bu yöntemin dejavantajı ise geniş bant aralığı kullanmamızı gerektirmesi ve yüksek dielektirik sabitine sahip malzemelere daha uygun bir yöntem olmasıdır. Reflektif Method'tan yararlandığımız bu yöntemde, bir dalga kılavuzun bölümüne yerleştirilmiş düşük kayıplı bir malzemenin (silikon) X_bandında karmaşık ve sadece genlik saçılma parametresi ölçümleri hesaplanıp numerik analiz ile desteklenmiştir. Diğer rezonans olmayan yöntemler gibi yöntem, düşük kayıplı numuneler için geçirgenliğin hayali kısmının kaba bir göstergesi olabilir. We have presented a method for complex permittivity detection with short-circuit termination of low-loss materials based solely on amplitude reflectance measurements. This method has advantages and disadvantages. The first advantage is that we can obtain max and min frequencies and make derivation easier because a certain frequency is observed. The second advantage is that it does not require calculation. The disadvantage of this method is that it requires us to use a wide bandwidth and is more suitable for materials with a high dielectric constant. In this method, which we use the Reflection Method, complex and only amplitude scatter parameter measurements of a low loss material (silicon) placed in the section of a waveguide are calculated and supported by numerical analysis. Like other non-resonance methods, the method may be a coarse indicator of the imaginary portion of permeability for low loss samples.
Collections