Yarıiletkenlerde iletkenlik ölçümleri
dc.contributor.advisor | Metin Gübür, Hülya | |
dc.contributor.author | Şat, Feride | |
dc.date.accessioned | 2020-12-29T06:29:23Z | |
dc.date.available | 2020-12-29T06:29:23Z | |
dc.date.submitted | 2010 | |
dc.date.issued | 2018-08-06 | |
dc.identifier.uri | https://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/336019 | |
dc.description.abstract | Kadmiyum Sülfür, Çinko Sülfür ve Çinko Selenür ince filmleri Kimyasal Depolama Yöntemi ile cam alt tabanlar üzerine depolanmıştır. Bu filmlerin optiksel, yapısal ve elektriksel özellikleri, hava ve azot ortamında farklı sıcaklıklarda tavlamanın bu özellikler üzerindeki etkileri XRD, SEM, EDX ve 4'lü Prop Yöntemi kullanılarak belirlenmiştir. Tavlamayla filmlerin yasak enerji aralığının ve direncinin azaldığı; tanecik büyüklüğünün ve iletkenliğin arttığı gözlenmiştir.Anahtar Kelimeler: CdS, ZnS, ZnSe, Kimyasal Depolama Yöntemi, 4'lü Prop Yöntemi | |
dc.description.abstract | Cadmium Sulfide, Zinc Sulfide and Zinc Selenide thin films were deposited on the glass substrate by using Chemical Bath Deposition Method. The structural, optical and electrical properties of these films and the effect of annealing in air and nitrogen atmosphere at different temperatures were determined by using XRD, SEM, EDX and Four Point Prope Technique. It is observed that the energy band gap and the resistivity of the film decrease but the grain size and conductivity increase with the annealing.Keywords: ZnS, CdS, ZnSe, Chemical Bath Deposition, Four Point Prop Technique. | en_US |
dc.language | Turkish | |
dc.language.iso | tr | |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.rights | Attribution 4.0 United States | tr_TR |
dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | |
dc.subject | Fizik ve Fizik Mühendisliği | tr_TR |
dc.subject | Physics and Physics Engineering | en_US |
dc.title | Yarıiletkenlerde iletkenlik ölçümleri | |
dc.title.alternative | Conductivity measurements in semiconductors | |
dc.type | masterThesis | |
dc.date.updated | 2018-08-06 | |
dc.contributor.department | Fizik Anabilim Dalı | |
dc.subject.ytm | Semiconductor thin films | |
dc.subject.ytm | Semiconductivity | |
dc.subject.ytm | Semiconductors | |
dc.identifier.yokid | 366368 | |
dc.publisher.institute | Fen Bilimleri Enstitüsü | |
dc.publisher.university | MERSİN ÜNİVERSİTESİ | |
dc.identifier.thesisid | 258922 | |
dc.description.pages | 111 | |
dc.publisher.discipline | Diğer |