Microprocessor based functional tester

Abstract

ÖZET MİKROİSLEMCİ TABANLI İŞLEVSEL TEST CİHAZI NAD AR. Abdullah Yüksek Lisans Tezi Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü Tea Yöneticisi: Doç. Dr. Hasan GORAN Eylül 1888, 107 Sayfa Bu tezde, bir Mikroişlemci Tabanlı işlevsel Test Cihazının tasarımı ve ger çeki eşti rimi sunulmaktadır. Fonksiyonel test cihazı, iki uçlu 24 sayısal ve 8 analog test yapabilen, sayısal ve analog arabirimlerden oluşan bir sistemdir. Analog testler sırasında, test edilecek sinyalden örnek alınıp ölçülür ve daha sonra kabul edilebilir sınırlar içerisinde olup-olmadığının karşılaştırmasını yapmak için bellekte saklanır. Sayısal testlerde ise, mantıksal 'yüksek' ve 'düşük' değerler teker teker test edilecek devrenin girişine uygulanır ve çıkış ölçülerek beklenen mantıksal değerlerle karşılaştırılır. Her sayısal veya analog testin sonucuna göre, test sonucunun doğru veya yanlış olduğunu belirten bir kod, daha sonra gösterilmek üzere, bellekte bir sonuç vektörüne yerleştirilir. Bu sistemde test edilecek kartın test noktalarıyla temas kurmak için Hint -Yatağı tekniği kullanılmıştır. Sistemin donanımı genel amaçlı olmasına ragmen, buradaki yazılım ve Hint-Yatagı özel vbir kart için tasarlanmıştır. Hint -Yatağının yeniden fiziksel olarak düzenlenmesi ve sistemin yazılımının değiştirilmesi ile bu sistem diğer kartları test etmek için kullanılabilir. Sistem 6802 mikroişlemci ile 8Kb ROM, 8Kb RAM, 5 PIA ve 8 kanallı analog-sayısal çeviricisine dayalıdır. Sistem aynı zamanda bir LCD gösterge, bir Hex tuştakımı ve bir paralel yazıcı arabirimini içerir. Anahtar Kelimeler: Mikroişlemci, İşlevsel Test, Hint- Y atağı, Arabi rim. vi

ABSTRACT MICROPROCESSOR BASED FUNCTIONAL TESTER NADAR Abdullah M.Sc.ln E.E.E. Supervisor: Assoc. Prof.Dr. Hasan GÜRAN September 1988, 107 Pages In this thesis, the design and implementation of a Microprocessor Based Functional Tester is given. Functional Tester is a system consisting of digital and analog interfaces which can perform 24 two port digital and 8 analog tests. During analog tests, the signal to be tested is sampled, measured and then stored in a memory location to compare with lower and upper limits of the acceptable voltage range later. For digital tests, the logical high and low values are applied one by one to the input of the circuit to be tested and the response is measured and compared with the expected logical value. According to the result of each analog or digital test a code which indicates whether the test result is true or false is placed in a result vector in the memory and displayed later. In order to contact with test points of the card to be tested in this system, the Bed of Nails technique is used. The software of the system and the Bed of Nails have been designed for a special card although the hardware of the system is iiigeneral purpose. With the new physical arrangement of Bed of Nails and modification of the system software allows the system to be used for testing of other cards. The system is based on 6802 microprocessor with 8Kb ROM, 8Kb RAM, 5 PIA and an 8 channel A/D converter. It has an LCD display, a Hex keyboard, and an interface to a Centronics printer. Keywords: Microprocessor, Functional Test, Bed of Nails, Interface. IV