Kimyasal depolama metodu ile üretilen CrSe ince filmlerin fiziksel özelliklerinin incelenmesi

Abstract

CrSe ince filmleri amorf cam alttabanlar üzerine pH değeri, çözelti sıcaklığı ve depolama zamanına bağlı olarak kimyasal banyo depolama metodu ile üretildi. İnce filmlerin yapısal özellikleri XRD ve SEM ile analiz edildi. İnce filmlerin kristal yapısı, kristal yönelimi, Bragg kırınım açısı, birim hücre parametreleri, Bragg düzlemler arası mesafe, tane boyutu, dislokasyon yoğunluğu, birim alan başına kristallenme sayısı, yüzey morfolojisi araştırıldı. İnce filmlerin optik özellikleri ki, direk optik bant aralığı (Eg), optik geçirgenlik (T%), yansıma (R%), absorpsiyon katsayısı (?), kırılma indisi (n), sönümleme katsayısı (k), dielektrik sabiti UV-VIS ile incelenmiştir.Anahtar Sözcükler: CBD metodu, CrSe ince filmler, SEM, XRD, UV-VIS.

CrSe thin films were produced by Chemical Bath Deposition (CBD) method onto amorphous glass substrates depending on solution temperature, deposition time and pH value. Structural properties were analyzed with XRD, SEM. The crystal structure, crystal orientation, Bragg?s diffraction angle, unit cell parameters, Bragg?s interplanar spacing, grain size, dislocation density, number of crystallites per unit area, surface morphology, composition of the thin film were investigated. Optical properties that the direct optical band gap (Eg), optical transmission (T%), reflectivity (R%), absorption coefficient (?), refraction index (n), extinction coefficient (k), dielectric constant (?) of the thin film were investigated via UV-VIS.Keywords: CBD method, CrSe thin films, SEM, XRD, UV-VIS.