Browsing FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ by Subject "Admittance measurement"
Now showing items 1-1 of 1
-
Amorf silisyum bazlı diyotlarda negatif sığa etkisi
(KARABÜK ÜNİVERSİTESİ/Fen Bilimleri Enstitüsü, 2018-08-06)Plazma destekli kimyasal buhar biriktirme (PECVD) yöntemiyle hidrojenlenmiş amorf silisyum (a-Si:H) katkılanmamış tabakanın p- ve n-tipi katkılanmış hidrojenlenmiş nanokristal silisyum (nc-Si:H) tabakalar arasında üretilmesiyle ...