Show simple item record

dc.contributor.advisorTütüncüoğlu, Ergür
dc.contributor.authorÖzak, Sevim
dc.date.accessioned2021-05-08T11:55:23Z
dc.date.available2021-05-08T11:55:23Z
dc.date.submitted1987
dc.date.issued2021-03-08
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/693191
dc.description.abstract- 11 - ÖZET Bu tezde gerçekleştirilen otomatik lojik entegre devre test cihazı, tipik bir software örneğidir. Çalışmalarımız sırasında çok kullandığımız lojik enteg re devrelerin test edilmesi amaçlanmış olup, cihaz halen kü tüphanesinde bulunan elemanları büyük bir doğrulukla test ede bilmektedir. Test işlemleri, lojik seviyeleri kullanılarak yapılmak tadır.
dc.description.abstract- XXI - ABSTRACT The logic integrated circuit designed in this thesis is a typical sample of software. In the study we aimed to test common types of integrated circuits which are capable of testing the components quite accurately. Test steps are realised `by using logic signal levels.en_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectElektrik ve Elektronik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectElectrical and Electronics Engineeringen_US
dc.titleÇeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2021-03-08
dc.contributor.departmentElektronik Ana Bilim Dalı
dc.identifier.yokid2074
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityULUDAĞ ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid2074
dc.description.pages109
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/embargoedAccess