Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması
dc.contributor.advisor | Tütüncüoğlu, Ergür | |
dc.contributor.author | Özak, Sevim | |
dc.date.accessioned | 2021-05-08T11:55:23Z | |
dc.date.available | 2021-05-08T11:55:23Z | |
dc.date.submitted | 1987 | |
dc.date.issued | 2021-03-08 | |
dc.identifier.uri | https://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/693191 | |
dc.description.abstract | - 11 - ÖZET Bu tezde gerçekleştirilen otomatik lojik entegre devre test cihazı, tipik bir software örneğidir. Çalışmalarımız sırasında çok kullandığımız lojik enteg re devrelerin test edilmesi amaçlanmış olup, cihaz halen kü tüphanesinde bulunan elemanları büyük bir doğrulukla test ede bilmektedir. Test işlemleri, lojik seviyeleri kullanılarak yapılmak tadır. | |
dc.description.abstract | - XXI - ABSTRACT The logic integrated circuit designed in this thesis is a typical sample of software. In the study we aimed to test common types of integrated circuits which are capable of testing the components quite accurately. Test steps are realised `by using logic signal levels. | en_US |
dc.language | Turkish | |
dc.language.iso | tr | |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/embargoedAccess | |
dc.rights | Attribution 4.0 United States | tr_TR |
dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | |
dc.subject | Elektrik ve Elektronik Mühendisliği | tr_TR |
dc.subject | Electrical and Electronics Engineering | en_US |
dc.title | Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması | |
dc.type | masterThesis | |
dc.date.updated | 2021-03-08 | |
dc.contributor.department | Elektronik Ana Bilim Dalı | |
dc.identifier.yokid | 2074 | |
dc.publisher.institute | Fen Bilimleri Enstitüsü | |
dc.publisher.university | ULUDAĞ ÜNİVERSİTESİ | |
dc.identifier.thesisid | 2074 | |
dc.description.pages | 109 | |
dc.publisher.discipline | Diğer |