Mikroişlemci kontrollü otomatik test sistemi

Abstract

- 11 - ÖZET Test işleminde Lojik Entegre Devrelerin doğruluk tablola rı esas alınmıştır» Bunlara göre entegre devrelerin giriş-çıkış uçları belirlenmiş olup, test bilgisi olarak bilgisayara veril miştir» Bilgisayar, test bilgileri ile alınması gereken sonuçla rı karşılaştırarak test işlemini gerçekleştirmektedir. Bu çalışmada fonksiyonları birbirinden farklı 6 entegre devrenin testi yapılmıştır* MPF-II'nin 24 K'lık RAM bölgesine ( 4000-9FFF) yerleştirilecek daha çok sayıda kütüphane ile iste nildiği kadar entegrenin testi yapılabilecektir. Kütüphane ek lenmesi programda her hangi bir değişiklik gerektirme?!. Hazırla nan sistem ve yazılan programlar, bu tezde incelenmiş olan en tegre devreler için istenilen sonuçları vermiştir.

- 11X - ABSTRACT In teat process, function tables of logic integrated circuits are used. Input-output pins of integrated circuits are determined and are given to computer as test data» Test data are compared with expected results by using computer and test process has been completed. In this study, six integrated circuits of having dif ferent functions are tested. Any number of integrated circuit test can be done with several libraries located to 24 K RAM region of MPF-II. Adding library does not need any change in the program. In this thesis, hardware and software of system are in very good agreement with examined integrated circuits.