Show simple item record

dc.contributor.advisorTepehan, G. Galip
dc.contributor.authorTürhan, İbrahim
dc.date.accessioned2021-05-08T08:50:53Z
dc.date.available2021-05-08T08:50:53Z
dc.date.submitted2000
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/658287
dc.description.abstractTi02 VE KATKILI Ti02 ÎNCE FİLMLERİNİN HAZIRLANMASI VE KARAKTERİZASYONU ÖZET Bu çalışmada teknolojideki etkin kullanımı nedeni ile VO2 katkılı TİO2 filmlerin optik özellikleri incelenmiştir. Geçirgenliği yüksek ve dayanıklılığı iyi bir malzeme olan TİÖ2 filmleri, hacimsel olarak değişik yüzde oranlarında VO2 ile katkılandırılmıştır..Hazırlanan sollerden daldırma (dip) ve döndürme (spin) yöntemleri ve değişik katman sayılarında oluşturulan filmlerin optik geçirgenlikleri 200 - HOOnm dalga boyu aralığında ve normal geliş halinde ölçülmüştür Geçirgenlik - dalga boyu eğrilerinden hesaplanan kırma indisleri, film kaplama yöntemi, katman sayısı (dolayısıyla kalınlık), döndürme hızı ve VO2 konsantrasyonuna bağlı olarak incelenmiştir. Elde edilen değerler, filmlerin kırma indislerinin yukarıda sıralanan parametrelere şiddetle bağlı olduğu gösterilmiştir. ıx
dc.description.abstractPREPARARATION AND CHARACTERIZATION OF Ti02 AND DOPED Ti02 THIN FILMS SUMMARY In this work, we have investigated the optical properties of VO2 doped thin films because of their wide use in technology. TİO2 thin films, which have a hight transmittance capability and durability, have been prepared in various VO2 doping concentration percentages. The transmittance spectra of the films, which are prepared dip and spin coating technics from the sol, have been measured by the normal incidence UV-Visible Spectraphotometer between 200nm and HOOnm. The refractive index of the prepared thin films have been calculated from the transmittance - wavelength spectra. These films have been investigated with respect to the coating methods, number of layers, spin rate and concentration of VO2. The results show that the refractive index of the prepared films, strongly depend on these parameters.en_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleTiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu
dc.title.alternativePreparation and characterization of TiO2 and doped TiO2 thin films
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentDiğer
dc.subject.ytmThin films
dc.subject.ytmOptical properties
dc.subject.ytmSol-gel method
dc.subject.ytmVanadium oxide
dc.subject.ytmCharacterization
dc.subject.ytmTitanium dioxide
dc.identifier.yokid110309
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityİSTANBUL TEKNİK ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid100887
dc.description.pages61
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/embargoedAccess