X-ışını floresans spektroskopisinin açıya duyarlı motor sistemiyle entegrasyonu

Abstract

Röntgen'in 1895 yılında X-ışınlarını keşfi, materyallerin kimliklendirilmesi ilgili önemli bir çığır açmıştır. X-Işını Floresans, elementlerin kalitatif ve kantitatif analizlerini numuneye zarar vermeden sağlayan önemli bir analitik tekniktir. Günümüzde temel fizik araştırmaları, metalürji, endüstri, tıp, biyokimya ve arkeoloji gibi çok farklı alanlarda kullanılan bu teknik sabit açılı deney geometrilerinde uygulanmaktadır. Ayrıca, XRF tekniği malzemelerin zırhlama yetenekleri hakkında bilgi veren kütle azaltma katsayısı parametrelerinin hesaplamalarında da kullanılmaktadır. Bu tez çalışmasında, sabit deney geometrisine sahip XRF sistemi açıya duyarlı hale getirilerek optimize edilecektir. Farklı saçılma açılarında farklı standart numuneler için radyasyon zırhlama parametreleri hesaplanarak yeni veriler bilim dünyasına sunulacaktır.

The discovery of X-rays in 1895 opened an important milestone in the identification of materials. X-ray Fluorescence is an important analytical technique that provides qualitative and quantitative analysis of elements without harm to the sample. Today, This technique which is applied in fixed angle test geometries is used in many different fields such as fundamental physics research, metallurgy, industry, medicine, biochemistry, and archeology. In addition, XRF technique is also used in the calculation of the mass reduction coefficient parameters that provide information about the shield capabilities of the materials. By calculating radiation shielding parameters at different scattering angles and for different standard samples, new data will be represented to the scientific community literature.