Lineer ve vernier interpolasyon yöntemleri ile zaman aralık ölçümü

Abstract

IV ÖZET Günümüz teknolojisinin sınıra sığmayan gelişimi birçok sorunları da beraberinde getirmektedir. Elektronik ve nükleer bilimlerinde çeşitli araştırma alanlarındaki temel sorun kısa zaman aralıklarının ölçümüdür. Nükleer fizikte pozitronun yok oluşu (annihilation) üzerindeki çalışmalar Cki bunlar üzerinde ölçülecek zaman aralığı 100 ns mertebesindedir ).o< » B ve 2f salan radyoaktif çekir deklerin yarı ömür tayinleri çok önemlidir, örneğin alfa parçacımı salan ggRa226 radyum çekirdeğinin yarı ömrü 1622 yıl olmasına karşın, gene alfa etkini 84Po212 polonyum izotopunun yarı ömrü sadece 3xl0~7 saniye olarak ölçülmüştür (300 ns). Elektronikte ise özellikle dijital devre dizaynla rında göz önüne alınması gereken unsurlardan biri de kul lanılacak devre elemanları üzerinde meydana gelecek darbe (puis) gecikmeleridir. Günümüzde mikroiş lemci ler in geli şimi öyle boyutlara ulaştı ki bu ciplerle saniyede mil yonlarca işlem yapılabilmektedir. Böylesine hızlı bir çalışma sürecinde birimler üzerinde meydana gelecek puis gecikmelerinin etkisini yok etmek değişik dizayn teknik leri ile mümkündür. Ancak bu tekniklerin kullanılabilme si de birimler üzerindeki puis gecikme miktarının bilin mesine bağlıdır.

SUMMARY Recent rapid technological deve 1 opmants bring out some new problems with it. Measurement of very short time intervals is the basic problem in research areas of nuclear science and electronics. Whose in nuclear physics, studies of positron annihilation ( whose time interval for this is study is about 100 nsec. ) and determination of life time of radioactive decay which emits alpha, beta and gamma particles are very important. For example the half-life of QQRa.2-2-3 emiting alpha particle is 1622 years, whereas that of 34P0212 also emiting particles is only about 3x10`? sec (300 nsec) In electronics, one of the most important points in design of digital circuits is the consideration of pulse delay which occurs in the circuit elements. Nowadays devolopment of microchips has reached the high technolo gical level so that, millions of arithmetical and logical operations can be carried out within afraction of one second by using these elements. During such rapid operations, the effect of pulse delays occuring in the circuit elements can be eliminated by various design techniques. For the use of these design techniques, i t is necessary to know the time intervals of these pulse delays.