Si (Li)dedektörü ile karakteristik x ışınlarının floresans tesir kesitlerinin ve boşluk geçişi ihtimaliyetlerinin ölçülmesi

Abstract

ÖZET Bu tezde Ge(Li) ve Si(Li) katıhal dedektörleri kullanılarak K ve L x- ışınları üzerine bazı çalışmalar yapılmıştır. ilk olarak Si(Li) katıhal dedektörü ile 73 < Z < 92 elementler bölgesinde 59.5 keV ve 122 keV- lik enerjilerde L/, La, Lp, L7 ve EL x-ışınlarının floresasns tesir kesitleri ölçülmüştür. Si(Li) katıhal dedektörü ile 73 < Z < 92 elementler bölgesinde K taba kasından L tabakasına boşluk transferi ihtimaliyetleri ölçülmüştür. Ayrıca Ge(Li) katıhal dedektörü ile ağır elementlerde K tabakasından Ln, LItı alt tabakalarına ve M tabakasına ışımalı geçiş ihtimaliyetleri ölçülmüştür. Neticede, ışımalı geçiş ihtimaliyetinin en fazla Lm alt tabakasına ait olduğu görülmüştür. Bulunan değerler diğer araştırmacıların teorik değerleri ile karşılaştırılmıştır.

SUMMARY In this thesis, some studies have been carried out on K and L x-rays using Ge(Li) and Si(Li) detector. Firstly, L/, La, Lp, Ly and total L x- rays flourescence cross sections have been measured for elements in the atomic range 73 < Z < 92 for the energy at 59.5 keV and 122 keV with the Si(Li) detector. K to L shell vacancy transfer probabilities have been measured for elements in the atomic region 73 < Z < 92 with Si(Li) dedector. Moreover, the probabilities for radiative transfer of a vacancy from K to Ln, Lin subshell and M shell have been measured in heavy elements with Si(Li) detector. It was found that the probabilities of radiative vacancy transfer was highest on the Lin subshell. The obtained values have been compared with the theoretical values of the other studies.