X ışını spektrometresi ile kalınlık tayini

Abstract

Bu tez çalışmasında, muhtelif kalınlıklı Al, Ag, Au levha (foil) numunelerin kalınlıkları x-ışını geçiş (transmission) tekniği kullanılarak spektrometrik metotla deneysel olarak bulunmuştur. Radyoaktif Am-241 nokta ve halka kaynaklardan yayınlanan 5.9 keVluk gama fotonlan uygun geometrilerde muhtelif kalınlıklı numuneler üzerine düşürülerek numuneden geçen ve çıkan fotonlarm spektrumlan elde edilmiştir. Havadan ve numune tutucularından saçılma ve temel sayma (background) katkısını tayin etmek için numunesiz ölçümler alınmıştır. Bu ölçümlerde 5.9 keVde yan maksimumdaki tam genişliği 160 eV olan bir Si(Li) dedektörü ile bağlantılı olan ND 66B çok kanallı analizör ve diğer elektronik sistemler kullanılmıştır. Spektrometrik olarak bulunan kalınlıkların şiddete, mikrometre ve tartma yoluyla bulunan kalınlıklara karşı korelasyon grafikleri çizilmiştir. Bu grafiklerden bunlar arasında iyi bir korelasyon olduğu görülmüştür.

The thicknesses of the various foils of Al, Ag, Au have been determinated with the transmission technique using an x-ray spectrometry. Transmitted and scattered photon of gamma rays radiated from an Am-241 point source and an Am-241 annular source have been counted together with the characteristic photon of the substrate and coating (covered materials) in a suitable geometry. To determinate the contributions of the background and scatterings from sample holder and wheather, measurement without sample have been performed. For the counting process, Si(Li) detector whose full width at half maximum (FWHM) is 160 eV at 59.5 keV coupled to an ND 66B multichannel analyser and the other electronical systems were used. Thicknesses experimentally determined with the transmission technique have been plotted versus intensity, thicknesses determined gravimetrically and measured with a micrometer. Besides, it is seen from these plots there are a good correlations between the measured intensity and the thicknesses of the samples determined from the transmission measurement by a gravimetric method and directly measured by a micrometer.