Ba, La, ve Ce bileşiklerinde L&/LB x ışını şiddet oranları üzerine kimyasal etkiler

Abstract

Bu çalışmada, Ba, La ve Ce'un farklı kimyasal bileşikleri için Lal L fi x-ışını şiddet oranlan üzerine kimyasal etkiler, enerji ayırımlı x-ışını spektrometresiyle incelenmiştir. Bileşiklerden hazırlanmış numuneler Am-241 kaynağından yayımlanan 59.5 keVlik y- ışınlarıyla uyanlmış ve numunelerden yayımlanan karakteristik L x-ışınları, rezolüsyonu 5,9 keVde 160 eV olan Si(Li) dedektörü ile sayılmıştır. Veriler üzerinde parçacık büyüklüğü ve dedektör verimi düzeltmeleri yapılmıştır. Sonuç olarak, Ba, La ve Ce bileşiklerinde Lal L p x-ışını şiddet oranlan üzerine kimyasal bileşikte mevcut farklı atomların etkilerinin varlığı gözlemlenmiştir. Elde edilen değerler teorik değerlerle karşılaştırılmıştır.

Chemical effects on the Lai Lp x-ray intensity ratios were investigated for different chemical compounds of Ba, La and Ce by energy dispersive x-ray spectrometer. Samples prepared from compounds, were excited with y-rzy emitted by Am-241 source at 59.5 keV and characteristic L x-rays emitted from the sample were counted by means of Si(Li) detlector which has a resolution 160 eV at 5,9 keV. On the results presented in this study, particle size and detector efficiency correction were performed. As a result, chemical effects of different atoms existing in the molecules on the Lai Lp x-ray intensity ratio were observed in the Ba, La and Ce compounds. The obtained values have been compared with the other theoretical values.