X-ışınları floresans spektrometresi ile elementlerin temel parametrelerini kullanarak standartsız analiz için matematiksel metod geliştirme ve uygulaması

Abstract

Ill ÖZET Doktora Tezi X-ISINLARI FLORESANS SPEKTROMETRESÎ ÎLE ELEMENTLERİN TEMEL PARAMETRELERİNİ KULLANARAK STANDARTSIZ ANALİZ İÇİN MATEMATİKSEL METOD GELİŞTİRME VE UYGULAMASI Abdullah ZARARSIZ Ankara Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Fizik Anabilira Dalı Danışman: Prof. Dr. Erol AYGÜN 1988, Sayfa: `89 Jüri: Prof. Dr. Erol AYGÜN Prof. Dr. Hüseyin SOYLU - Prof. Dr. Erol ÖZTEKİN Bu çalışmada değişik enerjilere sahip radyoizotop kaynaklar ile uyartılan elementlerin karakteristik X-ışınları şiddetleri teorik olarak hesaplanmış ve X-ışınları floresans tekniği ile standartsız analiz için kullanılan Rasberry-Heinrich (R-H) metodu geliştirilerek, standart alaşım numunelerinin analizlerine uygulanmıştır. 109 Cd radyoizotop kaynağı için hazırlanmış sayım düzeneğinin kolimatör faktörü teorik ve deneysel olarak hesaplanıp, kullanılan Si(Li) katı hal dedektörünün verim eğrisi standart X-ışınları kaynak ları kullanılarak elde edilmiştir. R-H metodunda numune içerisindeki elementlerin matris soğurma ve artırma katsayıları, Kg X-ışmlarının etkiside düşünülerek teorik olarak bulunmuş ve elementlerin karışım yüzdelerini veren ifade tek bir denklem ile yazılıp, G00DFELLOW ve NBS firmalarından alınan alaşımların analizleri yapılmıştır. AZ=±1 duru munda K` ışınlarının etkisinin fazla olduğu, diğer durumlarda ise et kinin azaldığı gözlenmiştir. Sonuçlardaki hataların nedenleri tartışılıp, diğer metodlarla yapılan, hata miktarları ile karşılaştırılmıştır. ANAHTAR KELİMELER: X-ışınları, X-ışınları floresans analizi, temel parametreler metodu, etkin katsayılar metodu, matris düzeltme, ampirik katsayılar.

IV ABSTRACT PhD Thesis DEVELOPMENT AMD APPLICATION OF A MATHEMATICAL METHOD FOR THE ANALYSIS OF SAMPLES WITHOUT STANDARDS BY USING FUNDAMENTAL PARAKETE! S OF ELEMENTS IN XRF-SPECTROMEfER Abdullah ZARARSIZ Ankara University Graduate School of Natural and Applied Sciences Physics Department Supervisor: Prof. Dr. Erol AYGÜN 1988, Page: 99, Jury: Prof. Dr. Erol AYGÜN Prof. Dr. Hüseyin SOYLU Prof.Dr. Erol ÖZTEKÎN In this thesis the characteristic X-ray intensities of elements excited by various radioisotope sources has been calculated theoretically and the Rasberry-Heinrich (R-H) method is developed further for the analyses of samples without standards by using the X-ray fluorescence technique. Specifically, the collimator factor of the counting geometry has been determined both theoretically and experimentally using the source of Cd. The efficiency curve of the Si(Li) detector is obtained by using standard X-ray sources. The sample alloys purchased from the GOODFELLOW COMPANY and NBS are analysed by R-H method in terms of their matrix absorption and enhancement coefficients which were determined theoretically in consideration with the effects of Kg lines. It is observed that the effects of Kg lines are appreciable in the case of AZ= ±1, while the effect is negligible for the other values of AZ. In the conclusion of the thesis, the sources of errors in the results of the analyses are discussed and compared with the other methods. KEY WORDS: X-rays, X-ray fluorescence analysis, fundamental parameter, method crossed influence coefficients, matrix corrections, empirical coefficients.