Atom numarası 25 ? Z ? 30 arasındaki elementlerin l? ve lß1 x-ışını yayımlama çizgileri üzerine kimyasal kaymanın incelenmesi

Abstract

Bu çalışmada atom numarası olan elementlerin farklı bileşikleri ele alınarak ve X-ışını yayımlama çizgileri üzerine kimyasal kayma incelenmiştir.Ölçüm için kimyasal numuneler Spex (Cat. B25) presleme makinesiyle preslenerek tablet olarak hazırlanmıştır. Bu numuneler WDXRF (dalgaboyu ayrımlı X-ışını flöresans) spektrometresinde analiz edilmişlerdir. Burada ilgilenilen numunelerin ve X-ışını flöresans spektrumlarına bakılmıştır. Spektrometre enerjisini kalibre etmek için her bileşikten önce ve sonra saf element yani metal 2 defa ölçülmüştür. WDXRF sistemi tarafından alınan veriler OriginPro 7.5 programına aktarılarak elemente ait karakteristik spektrumları ve şiddete (sayıma) karşı enerji spektrumları çizilmiştir.Sonuç olarak, atom numarası olan elementlere ait bileşiklerinin ve X-ışını yayımlama çizgileri üzerine oksidasyon sayısının, ligandlarının sayısının, bağ enerjisinin ve bağ uzunluğunun etkilerinin varlığı gözlemlenmiştir. Elde edilen değerler litaretürdeki değerlerle karşılaştırılmıştır.

In the present study, the chemical shift of the and X-ray emission lines has been investigated for different compounds of elements in the atomic region .The chemical samples were pelleted using a pressing machine (Spex (Cat. B25)) to form tablet samples prior to measurements. The measurements were carried out using a WDXRF (wavelength dispersive X-ray fluorescence) spectrometer. Using this spectrometer, the and X-ray fluorescence spectra of selected samples were investigated. The pure sample namely the metal was measured two times just before and after the each compound to calibrate the energy of spectrometer. The data taken from WDXRF system were transferred into OriginPro 7.5 graph programme. And the characteristic spectra of elements and the energy spectra versus intensity (counts) were drawn using this programme.In conclusion, the presence of the effects of oxidation number, ligand number, bond energy and bond length on to the and X-ray emission lines has been observed. The obtained values have been compared with the values present in the literature.