Show simple item record

dc.contributor.advisorYılbaş, B. Sami
dc.contributor.authorKaraboğa, Nurhan
dc.date.accessioned2020-12-30T08:43:54Z
dc.date.available2020-12-30T08:43:54Z
dc.date.submitted1990
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/502869
dc.description.abstractÖZET Çalışmanın ilk bölümünde konuya giriş yapılarak Fermat prensibi ve Snell Kanunu hakkında bilgi verilmiş, ikinci ve takip eden bölümlerde odak uzak lığı, Gauss görüntü, dalga cephesi, küresel aberasyon ve bunun mercek şek line bağlı değişimini belirlemek için paraksiyal yaklaşım incelenmiştir. Yedinci bölümde sistem dizaynı için sonlu ışın izleme (finite ray tracing) nin önemi belirtilerek iki boyutta incelenmiştir. Sekizinci bölümde deği şik veriler için bilgisayar programlarının neticeleri tartışılmıştır. Abe rasyonu en düşük düzeye indirmek için bazı parametrelerin uygun değer leri, bilgisayar programları yardımıyla, daha kısa sürede bulunmuştur.
dc.description.abstractVI SUMMARY In the beginning of the study, giving knowledge about the Fermat's principle and Snell's Law, the paraxial approximation that has allowed us to determine the focal length, Gaussian image plane and a measure of the wavefront spherical aberration and its variation with lens shape has considered. ' When a design has approached a sufficient minimum in aberration - which may require changes in refractive indices and elements seperations as well as changes in curvatures - Then it is time to trace some actual rays through the system procedure for doing this which is called finite ray tracing. In the section 7, this has been considered. After that two computer programs and results of them and suggestions for further study were given.en_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectElektrik ve Elektronik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectElectrical and Electronics Engineeringen_US
dc.titleOptik sistemlerde mercek aberasyonları ve bunların bilgisayar yardımı ile incelenmesi
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentElektronik Anabilim Dalı
dc.identifier.yokid8439
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityERCİYES ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid8439
dc.description.pages56
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess