Show simple item record

dc.contributor.advisorGeçim, Selçuk
dc.contributor.authorÇiğdemoğlu, M.Demir
dc.date.accessioned2020-12-30T07:23:50Z
dc.date.available2020-12-30T07:23:50Z
dc.date.submitted1988
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/486692
dc.description.abstractÖZET Bu tez çalışmasında çok mikroişleyicili sistemler incelen di ve iki mikroişleyicili sistem kullanılarak statik RAM ciplerinin test işlemi gerçekleştirildi. Test sonuçları, tek mikroişleyicili sistemde elde edilenlerle karşılaştı rıldı ve iki mikroişleyicili sistemdeki hızlanma (speed up) Ölçüldü. Teorik ve pratik sonuçların aynı olduğu is patlandı. Bu amaçla, çok mikroişleyicili sistemlerin çalışma pren sipleri ve hızlanma hesapları örnek uygulamalarla verildi. RAM'lerin test metodları ve bu metodlar için geliştirilen algoritmalar incelendi. Bu metodlardan ikisi seçilerek hem tek mikroişleyicili hem de iki mikroişleyicili sistem de RAM ciplerinin testinde kullanıldı.
dc.description.abstractiv SUMMARY In this thesis, the operation of multi-microprocessor systems are studied, and with the utilization of a two microprocessor sytem, functional testing of RAM chips are realized. The execution time of the tests are compared with the ones for a single microprocessor test system and the speed-up is measured. It is proved that the theoretical and practical results are about the same, within the experimental error. The operation principles and speed-up calculations of multi microprocessor systems are given with the application examples. Test methods and algorithms for RAM testings are briefly studied. Two particular test methods are employed in the two microprocessor test system for the functional testing of RAM chips, in this thesis.en_US
dc.languageEnglish
dc.language.isoen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectElektrik ve Elektronik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectElectrical and Electronics Engineeringen_US
dc.titleThe Utilization of multimicro-processor systems for functional testing of rams
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentDiğer
dc.identifier.yokid4685
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityHACETTEPE ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid4685
dc.description.pages117
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/embargoedAccess