Search
Now showing items 1-1 of 1
Tek katlı ince filmlerin optik özelliklerinin Swanepoel modeli ile belirlenmesi için yazılım geliştirilmesi
(2019-07-25)
İnce filmlerin dalga boyuna bağlı kompleks kırma indisi bilgisinin doğruluğu, hem araştırmacılar için hem de teknolojik açıdan oldukça önem taşımaktadır. Bu bilgi optik bant aralıkları (yarıiletkenler ve yalıtkanlar için), ...