Show simple item record

dc.contributor.advisorKarabıyık, Haldun
dc.contributor.authorDurmuş, Haziret
dc.date.accessioned2020-12-29T17:43:51Z
dc.date.available2020-12-29T17:43:51Z
dc.date.submitted1991
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/468777
dc.description.abstractBu çalışmada numune olarak, elektronik devrelerde ışığa duyarlı ele man olarak kullanılmak üzere hazırlanmış n*p eklemli Silisyum güneş pilleri kullanıldı. Yarıiletken güneş pillerinde azınlık taşıyıcı yarıömür tayin yöntemlerine değinildi ve bunlardan POVD yöntemi etraflı bir şekilde incelendi, deneysel ölçümlerde buna uygun olarak gerçekleştirildi. Değişik dalga boylarında elde edilen sabit şiddetli ışık pulsları, farklı üç numune üzerine gönderilerek, oluşan V^t) Açık devre gerilim bozunması osiloskopta gözlendi. Aynı zamanda bozunma eğrileri bir fotoğraf filmine kaydedildi. Bu eğrilerin eğimleri ampirik bir ifadede kullanılarak hesaplanan yarıömür değerleri çizelge halinde verildi. Elde edilen sonuçların Y. K. HESEEH ve arkadaşlarının öngördüğü değerlerle uyum içinde olduğu görüldü. ANAHTAR KELİMELER : POVD, yarıömür, azınlık taşıyıcı, dejenere,verim ömür,
dc.description.abstractIn this study it has been used an n+p-Si junction Solar Cell which was prepared to use as a light sensitive device in electronic circuits. The methods which are used to determine the minority carrier lifetime in semiconductor solar cells were discussed, and among them the POVD method was examined in detail, and according to this method some experimental measurements were made. Light pulses with constant intensities, generated in various wavelength were send upon three different speciemens, the Voc(t), Open Circuit Voltage Decay curves were observed on an oscilloscope. At the same time, these decay curves were recorded on a photographic film. By using the slopes of these curves in an ampirical relation, the calculated lifetime values were given in a table. It was seen that the results obtained are in agreement with the values proposed byY.K.HESİEHet.all.[3]. KEY WORDS : POVD, Lifetime, Minority Carrier, Degenere, Efficiencyen_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleYarıiletken güneş pillerinde azınlık taşıyıcıların yarıömür tayin yöntemleri
dc.title.alternativeThe determining methods of minority carrier lifetime in semiconductor solar cells
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentFizik Anabilim Dalı
dc.subject.ytmMinority carrier
dc.subject.ytmSolar cells
dc.subject.ytmSemiconductor solar cell
dc.identifier.yokid17317
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universitySELÇUK ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid17317
dc.description.pages44
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/embargoedAccess