Search
Now showing items 1-10 of 27
EDXRS`de PEAK`in temel saymaya oranını etkileyen faktörler ve minimum algılanabilir miktar
(2020-07-10)
Spektrometrik sistemlerle çalışılırken bütün deneysel şartların en iyisine ulaşılamayabilir. Bu yüzden kullanıcı amacına uygun olarak üstün olmasını istediği özellikler arasından bir tercih veya tercihler yapmalıdır (Figure ...
Geniş band aralıklı ZnO`nun elektrokimyasal yöntemlerle tek kristal büyütülmesi
(2020-12-01)
Geniş ve direk band aralıklı ZnO ince filmi, büyütme parametreleri değiştirilerek Indium TinOxide (ITO) film üzerine elektrokimyasal işlemlerle büyütüldü. Yapılan denemeler sonucundaen kaliteli filmlerin, 0.1 molarlık ...
XRF ile ilgili atomik parametreler ve K tabakası osilatör şiddetlerinin belirlenmesi
(2020-07-18)
Atomik parametreler iki farklı teknik kullanılarak belirlenmiştir. Bu tekniklerin ilki olan X-ışını azaltma tekniği ile Cd, In, Sn, Sb, Te, La, Ce, Pr, Nd ve Sm elementleri için K tabakası soğurma kıyısı civarında kütle ...
Srtio3 nanoküplerin sentezi, yapısal karakterizasyonu ve heteroeklem uygulamaları
(2020-04-07)
Bu çalışmanın amacı SrTiO3 nanoküplerinin heteroeklem uygulamalarında aygıt performansını nasıl etkilediğini araştırmaktır. Bu amaç doğrultusunda; [100] doğrultusunda, 400 μm kalınlığında ve 1-10 Ω-cm özdirencine sahip ...
ZnO yarıiletkeninin kusur karakterizasyonunda DLTS tekniği
(2020-12-01)
2005 yılında Fizik bölümüne Sula Tecnologies firmasından alınan kompakt DerinSeviye Geçiş Spektroskopi (DLTS) sisteminin geniş yasak enerji aralıklıyarıiletkenlerden ZnO'da ölçüm için hazır hale getirilmesine çalışıldı. ...
Bazı elementlerin K ve L tabakalarına ait floresans verim değerlerinin Ge (Li) dedektörü ile ölçülmesi
(2020-11-17)
ÖZET Bu tezde Ge(Li) katıhal dedektörü kullanılarak K ve L x-ışınlan üzerine bazı çalışmalar yapılmıştır. îlk olarak, Am-241, Ba-133 ve Mn-54 radyoizotop kaynakları kullanılarak dedektör için fotopik ve mutlak verimlilik ...
InSe ince filmlerin sılar yöntemiyle büyütülmesi ve karakterizasyonu
(2020-12-01)
InSe ince filmler, bir yüzeyi selefon bant kaplı ve yaklaşık boyutları 1cm x 2cm olancam altlıklar üzerine, oda sıcaklığında SILAR (Successive Ionic Layer Adsorption andReaction) tekniği kullanılarak büyütüldü. Filmlerin ...
Sol-jel tekniği ile büyütülen TİO2 ince filmlerin yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi
(2020-01-08)
Bu tez çalışmasında, sol-jel tekniği kullanılarak cam alttaşlar üzerine titanyum dioksit (TiO2) ince filmler büyütülmüştür. 1, 7, 14, 21, 28, 35, 42 ve 49 gün yaşlandırılan çözeltiden 8 adet ince film üretilmiştir. Çalışmanın ...
Bazı bor bileşiklerinde koherent ve gerisaçılma şiddet oranının ortalama atom numarası ile değişiminin incelenmesi
(2020-06-01)
Bu çalışmada, EDXRF sisteminde koherent ve gerisaçılma şiddet oranının ortalama atom numarası ile değişimi incelenerek, bu şiddet oranının kalitatif analizlerde kullanılabilirliği araştırılmıştır. Ortalama atom numarası ...
Bazı oksit ve ııı-v yarıiletken mikro ve nano yapıların yüzey fiziği özelliklerinin incelenmesi
(2020-04-07)
Bu tezde, katkısız ve katkılı n-WO3, p-NiO ile n-TiO2, n-GaAs (Te), n-InP ve SI-GaAs (Un), InP (Fe) yarıiletkenlerdeki cihaz özelliklerinin belirlenmesi ve yüzey olaylarını kontrol etmek amacıyla yüzey enerjileri ölçüldü. ...