Show simple item record

dc.contributor.advisorBakkaloğlu, Ömer Faruk
dc.contributor.advisorÖztaş, Mustafa
dc.contributor.authorBedir, Metin
dc.date.accessioned2020-12-29T13:38:23Z
dc.date.available2020-12-29T13:38:23Z
dc.date.submitted2002
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/430425
dc.description.abstractIll oz YARIİLETKEN(CdS, CdSe and ZnSe) VE İLETKEN (NiFe) FİLMLERİN BÜYÜTÜLEREK ONLARIN ELEKTRİKSEL, MANYETİK VE OPTİKSEL ÖZELLİKLERİNİN ARAŞTIRILMASI BEDİR, Metin Doktora Tezi, Fizik Mühendisliği, Gaziantep Üniversitesi Danışman: Prof.Dr.Ömer Faruk BAKKALOĞLU Yrd. Danışman: Yrd.Doç.Dr. Mustafa ÖZTAŞ Kasım 2002, 166 Sayfa Bu çalışmada, püskürtme ve elektrodepolama yöntemiyle CdS, CdSe ve ZnSe yan iletken filmleri ve iletken NiFe alaşım filmleri elektrodepolama yöntemiyle farklı alt tabanlar üzerine, farklı depolama yöntemleri uygulanarak büyütülüp onların elektriksel, manyetiksel ve optiksel özellikleri farklı teknikler kullanılarak araştırılmıştır. Yan iletken filmlerin optiksel özellikleri çift ışıklı olup görünür bölgede çalışan spektrometreden elde edilen optiksel soğurma katsayıları ve geçirgenlik tayflarının analiziyle araştırılmıştır. Bu veriler kullanılarak yan iletken filmlerin enerji band değerleri hesaplanmıştır. Yan iletken (CdS, CdSe ve ZnSe) ince filmlerin ve iletken (NiFe) filmlerinin kristal yapılan x-ışınımı difraktometresinden elde edilen pikler kullanılarak incelenmiş ve püskürtme yöntemiyle elde edilen CdS, CdSe ve ZnSeIV yan iletken ince filmlerin kalınlıkları ağırlık yöntemiyle hesaplanmıştır. Yan iletken ince filmlerin elektriksel özellikleri Van der Pauw (dört nokta kontakt) metoduyla incelenmiştir. Farklı alt taban sıcaklığında elde edilen yan iletken ince filmlerinin özdirençlerinin, öziletkenliklerinin ve Hail mobilitelerinin alt taban sıcaklığına göre değişimi araştırılmıştır. NiFe alaşım film örneklerinin yüzey yapısı, yüzey tarayıcı elektron mikroskobu (SEM) ile çekilen fotoğraflarla belirlenmiş ve filmlerin içerisindeki Ni ve Fe yüzde oranlarıyla filmlerin kalınlıkları Atomik Absoption spektrofotometresiyle elde edilen sonuçlar kullanılarak hesaplanmıştır. İletken NiFe alaşım filmlerin elektriksel ve manyetik özellikleri 2 Teslalık elektromıknatısla Van der Pauw (dört nokta kontakt) yöntemi kullanılarak oda sıcaklığında farklı geometriler (manyetik alan film yüzeyine farklı açılarla uygulanarak) ve 0.8 Tesla'lık sabit manyetik alan altında sıcaklığa bağlı magnetoresistance ölçümleri yapılarak incelenmiştir. Bunun yanı sıra NiFe alloy filmlerin manyetizasyon özellikleri VSM ( vibrating sample magnetometre ) ölçümleri alınarak incelenmiştir. Anahtar kelimeler: Püskürtme yöntemi, elektrodeposition yöntemi, CdS, CdSe, ZnSe, manyetoresistance, NiFe alaşım filmler.
dc.description.abstractABSTRACT GROWTH OF SEMICONDUCTING (CdS, CdSe and ZnSe) AND CONDUCTING FILMS (NiFe) AND INVESTIGATION ON THEIR ELECTRICAL, MAGNETIC AND OPTICAL PROPERTIES BEDİR, Metin Ph.D. in E.P., University of Gaziantep Supervisor: Prof.Dr. Ömer Faruk BAKKALO?LU Co-supervisor: AssistProf.Dr. Mustafa ÖZTAŞ November 2002, 166 Pages In this study, semiconducting CdS, CdSe and ZnSe thin films were developed by using spraying pyrolysis and electrodeposition method, conducting NiFe alloy films were grown by electrodeposition method on different substrates under different deposition conditions and their electrical, magnetic and optical properties were widely investigated by using different techniques. The optical properties of the semiconducting were investigated from optical absorption coefficient and transmittance spectra data using double beam visible spectrofotometer. By using these data the band gap energies of the semiconductingthin films were determined. The crystal structures of semiconducting (CdS, CdSe, and ZnSe) thin films and conducting (NiFe) films were determined from x-ray diffraction peaks and the thicknesses of the sprayed CdS, CdSe and ZnSe thin film samples were calculated by using weighing method. The electrical properties of the semiconducting thin film samples were investigated by Van der Pauw method ( four ohmic contact). The changes in the resistivities, conductivities and Hall mobilities of the semiconducting thin films under different substrate temperatures have been investigated. The surface morphology of NiFe alloy film samples were examined from scanning electron microscope (SEM) photos nickel ( Ni) and iron (Fe) concentration in NiFe alloy film samples were calculated by using the atomic absorption spectrometer results also the thicknesses of samples were determined. The electrical and magnetic properties of electrodeposited NiFe conducting alloy films were investigated by using a 2 Tesla home made electromagnet and Van der Pauw method ( four ohmic contact), respectively, for different geometries ( magnetic fields were applied under the different angles onto film surface ) at room temperature. The temperature dependent magnetoresistance measurements were done under the influence of a constant magnetic field of 0.8 Tesla for two different geometries ( longitutional and transverse ). Magnetization properties of the NiFe alloy film samples were also determined by vibrating sample magnetometers (VSM). Key words: Spray Pyrolysis method, Electrodeposition method, CdS, CdSe, ZnSe, magnetoresistance, NiFe alloy films.en_US
dc.languageEnglish
dc.language.isoen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleGrowth of semiconducting (CdS, CdSe and ZnSe) and conducting films (NiFe) and investigation on their electrical, magnetic and optical properties
dc.title.alternativeYarıiletken (CdS, CdSe ve ZnSe) ve iletken (NiFe) filmlerin büyütülerek onların elektriksel, manyetik ve optiksel özelliklerinin araştırılması
dc.typedoctoralThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentDiğer
dc.subject.ytmElectrical properties
dc.subject.ytmMagnetic properties
dc.subject.ytmOptical properties
dc.subject.ytmSemiconductor films
dc.subject.ytmConductor films
dc.identifier.yokid127930
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityGAZİANTEP ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid121753
dc.description.pages166
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess