İkili soy metal-manyetik metal ince filmlerin özdirenç değişimlerinin incelenmesi

Abstract

IV ÖZET İKİLİ SOY METAL-MANYETİK METAL İNCE FİLMLERİN ÖZDİRENÇ DEĞİŞİMLERİNİN İNCELENMESİ Göz, Mehmet Doktora Tezi, Fizik Bölümü Tez yöneticisi; Prof. Dr. Aslan Eroğlu Ocak 1997, 85 sayfa Bu tezde 100-300 K sıcaklık aralığında soymetal-ferromanyetik metal Au/X, Ag/X ve Cu/X (X=Fe, Ni ve Co) çift katlı filmlerin özdkencinin üst film kalınlığına ve sıcaklığa bağlı değişimleri incelenmiştir. Transmisyon elektron mikroskobu ile yapılan incelemelerden bu çift katlı ince filmlerin mikroyapısının taneciklerden oluştuğu sonucuna varılmıştır. Üst film kalınlığı 5 nm 'den küçük olan bu çift katlı ince filmlerin özdirenci Birleştirilmiş modele göre analizlenmiştir. Analiz sonuçlarından bu çift katlı filmlerin özdirencinin 293 K deki rj yüzey pürüzlülük ve n arayüzey pürüzlülük parametreleri elde edilmiştir. Taban soymetal film üzerine ferromanyetik metal film kaplanmasıyla arayüzey saçılması yüzey saçılmasından daha büyüktür. Taban film (Au, Ag ve Cu ) üzerine Fe ince film kaplanmasıyla yüzey ve arayüzey pürüzlülük parametreleri diğer ferromanyetik metal filmlere göre daha büyük değerler almaktadır. Üst film kalınlığı 5 nm 'den büyük olan bu çift katlı ince filmlerin özdirenci artan üst film kalınlığı ile artmaktadır. Bu artışın sebebi üst filmin bulk etkisinden kaynaklanmaktadır. Anahtar kelimeler; Çift katlı ince film, elektriksel özdirenç, yüzey saçılması, arayüzey saçılması, grain-sınır saçılması

V ABSTRACT A Study of Resistivity of Double Thin Nobel Metal-Magnetic Metal Films. GÖZ, Mehmet Thesis of Ph. D. in Science Supervisor: Prof. Dr. Aslan EROGLU January 1997, 85 pages In this thesis, the resistivity variations of double-layered nobel metal- ferromagnetic metal (Au/X, Ag/X, and Cu/X, where X=Fe, Ni, or Co) films, which are related to the upper film thickness and the temperature, has been studied in the temperature range of 100-300 K. It has been shown that the micro structure of this double layered thin films are made of grains by the Transmission Electron Microscopy. The resistivity of this double layered thin films, which their upper film thickness is less than 5 nm, has been analized according to combined model. According to analysis results, ri surface roughness and n interface roughness parameters of the resistivity of this double layered films are obtained at 293 K temperature. The interface scattering is bigger than the surface scattering if a ferromagnetic film is covered over a base nobel metal. When the Fe thin films are covered over the base film (Au, Ag and Cu), interface and surface roughness parameters may attain larger values than the other ferromagnetic metal films. On the other hand the upper film thickness is increased (more than 5 nm ), the resistivity of this double layered thin film also increase. The reason for this increase is related to the bulk effect of the upper film. Key words: Double layered thin films, electrical resistivity, surface scattering, interface scattering, grain-boundary scattering