Show simple item record

dc.contributor.advisorEllialtıoğlu, Mehmet Recai
dc.contributor.authorAta, Erhan Polatkan
dc.date.accessioned2020-12-02T12:50:54Z
dc.date.available2020-12-02T12:50:54Z
dc.date.submitted1994
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/37362
dc.description.abstractÖzet GaAs MESFET ÜRETİMİ, KARAKTERIZASYONU VE PARAMETRELERİNİN ELDESİ Erhan Polatkan Ata Fizik Yüksek Lisans Tez Yöneticisi: Doç. Dr. Recai Ellialtıoğlu 28 Ocak 1994 Metal Yarıiletken Alan Etkili Transistor (MESFET), günümüz mikro- dalga endüstrisinin en yaygın kullanılan elemanıdır. MESFET teknolojisinin gelişmesinden sonra mikrodalga endüstrisi, özellikle iletişim alanında, önemli ivme kazanmıştır. Bu çabşmada, değişik boyut ve geometrilerde GaAs MESFETler üretilmiştir. Bu cihazların karakterizasyonu ve parametrelerinin eldesi alçak ve yüksek frekans bölgelerinde yapılan ölçümlerle gerçekleştirilmiştir. Üretilen MESFETlerin düşük kesim frekansları, optimize edilmemiş kapı (gate) oyuğu aşındırmasına bağlanmıştır. Anahtar Sözcükler: MESFET, GaAs, Schottky eklemi, ohmik eklem, aktif tabaka, analitik model, küçük sinyal modeli. ıı
dc.description.abstractAbstract FABRICATION, CHARACTERIZATION, AND PARAMETER EXTRACTION OF GaAs MESFETS Erhan Polatkan Ata M. S. in Physics Supervisor: Assoc. Prof. Recai Ellialtıoğlu 28 January 1994 Metal Semiconductor Field Effect Transistor (MESFET) is the most widely used active element of today's microwave industry. After development of the MESFET technology, the microwave industry gained a high acceleration, especially in the telecommunication field. In this study, GaAs MESFETs with various dimesions and geometries were fabricated. Characterization and parameter extraction of these devices were performed, by means of low and high frequency measurements. The low cut off frequency of the MESFETs produced were attributed to the non-optimized gate recess etch. Keywords: MESFET, GaAs, Schottky Contact, Ohmic Contact, active channel, analytical model, small-signal model.en_US
dc.languageEnglish
dc.language.isoen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleFabrication, characterization and parameter extraction of GaAs mesfets
dc.title.alternativeGaAs mesfet üretimi, karakterizasyonu ve parametrelerinin eldesi
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentDiğer
dc.subject.ytmMESFET
dc.subject.ytmMicrowaves
dc.identifier.yokid33733
dc.publisher.instituteMühendislik ve Fen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityİHSAN DOĞRAMACI BİLKENT ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid33733
dc.description.pages81
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/embargoedAccess