Show simple item record

dc.contributor.advisorİnce, Syeda Rabıa
dc.contributor.advisorYükselici, Hikmet
dc.contributor.authorFeeney, Michael
dc.date.accessioned2020-12-29T06:47:00Z
dc.date.available2020-12-29T06:47:00Z
dc.date.submitted2011
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/339002
dc.description.abstractBu tezde kuantum noktaları ve kullanımları ele alınmış olup, AFM, fotolüminesans, UV-VIS-NIR spektroskopisi, Raman spektroskopisi ve interferometre yöntemleri kuantum noktalarının özelliklerini incelemek için kullanılmıştır. Tavlama etkileri, üretim süreci ve taban malzeme üzerindeki katmanlı kuantum nokta düzeni üzerindeki etkisi bakımından incelenmiştir. Michelson interferometresi incelenmişve belirsizlikler tanımlanmıştır; deneysel belirsizliklerin yeni kaynağı fark edilmiş, ve tezde belirtilmiştir. Bu deneysel yöntem sonra kuantum noktalarına uygulanmış ve bu yöntemin yeni kullanım alanı fark edilmiştir. Bu çalışma basit bir interferometre kullanılarak sıvı veya katı faz bir örnek içindeki kuantum noktalarının boyutunu belirlemenin mümkün olduğunu göstermiştir. Sıvı veya katı fazdaki bir maddenin kırılma indisinin bu yöntemle değiştirilebilirliği incelenmiş, ve kuantum noktalarını içeren bir maddenin kırılma indisini etkileyen parametreler tanımlanmış ve bildirilmiştir.
dc.description.abstractThis thesis is concerned with quantum dots and their applications, AFM, photoluminescence, UV-VIS-NIR Spectrometry, Raman spectrometry and interferometry experimental methods were used to investigate the properties of quantum dots. Annealing effects have been investigated with regard to the fabrication process and its effect on the organisation of quantum dots layered on a substrate material. A Michelson Interferometer is analysed and the uncertainties are identified; A new source of experimental uncertainty was realised, quantified and reported in this thesis. This experimental method was then applied to quantum dot samples and a new application of this experiment was realised. This work shows that using a simple interferometer setup it is possible to determine the size of quantum dots within a sample in liquid or solid phase. The ability to tailor make the refractive index of a material is investigated in liquid and solid phases, and the parameters effecting the refractive index for a material containing quantum dots are defined and reported.en_US
dc.languageEnglish
dc.language.isoen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleNovel applications of semiconducting nanoparticulates
dc.title.alternativeYarı iletken nanoparçaçıkların yeni uygulamaları
dc.typedoctoralThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentFizik Anabilim Dalı
dc.subject.ytmNanocrystals
dc.subject.ytmExperimental analysis
dc.subject.ytmNanoparticles
dc.subject.ytmInterferometer
dc.subject.ytmRefractive errors
dc.subject.ytmExperimental design
dc.identifier.yokid405916
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityYEDİTEPE ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid408766
dc.description.pages194
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/embargoedAccess