Görüntü kalitesinin arttırılmasında optik yüzeylerin etkisinin incelenmesi

Abstract

Bu çalışmada özellikle alttaşın kırılma indisine bağlı olarak üzerinde kaplanan ince filmin yansımaya etkisi incelenmiştir. İstenilen dalga boyunda, özellikle alttaş kırılma indisine bağlı olarak, yansımayı en aza indirecek n.d kırılma indisi ile kalınlık çarpımının optimizasyonu araştırılmıştır. Elektromanyetik alanın (EMA) ince film-alttaş yüzeyine dik ve paralel (TE ve TM) kipleminde gelen ışığın normale göre yaptığı açıya bağlı olarak yansıması araştırılmıştır. Çalışmada Ge alttaş üzerinde ZnS ve ZnO ince filmlerin kalınlık ve EMA'nin geliş açısında göre yansıma çalışmaları yapılmıştır.

In this study, the effect of thin film coated on the substrate is investigated, especially due to the refractive index of the substrate. The optimization of the thickness multiplication by the refractive index n.d, which minimizes the reflection, has been investigated in the desired wavelength due to the substrate index. The reflection of the electromagnetic field (EMA), which is perpendicular to the thin-film-substrate surface and parallel to the surface (TE and TM), is investigated. On the other hand, the reflection studies of the thickness of ZnS and ZnO thin films on the Ge were made according to the angle of incidence of EMA.