Show simple item record

dc.contributor.advisorSünbül, Önder
dc.contributor.authorTürker, Ece
dc.date.accessioned2020-12-10T07:48:24Z
dc.date.available2020-12-10T07:48:24Z
dc.date.submitted2016
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/218907
dc.description.abstractBu çalışmanın amacı, paralel, eş biçimli ve konjenerik ölçme yapılarında, test uzunluğu, örneklem büyüklüğü ve faktör yük dağılımları gibi güvenirliği etkileyen etmenler altında KR-20 ve faktör analitik yaklaşımda kullanılan Omega güvenirlik katsayılarının incelenmesidir.Bu amaç doğrultusunda, çeşitli faktörlere (örneklem büyüklüğü, test uzunluğu ve faktör yük düzeyleri) göre veri üretilmiştir. Üretilen verilerde her bir durum için 100 yineleme (replikasyon) yapılmıştır. Veriler, paralel, eşbiçimli ve konjenerik ölçme yapılarında ayrı ayrı olarak, belirtilen koşulların çaprazlanması sonucu oluşan her bir duruma uygun olarak üretilmiştir. Veri üretimi R 3.0 programında `psych` paketi ve araştırmacı tarafından yazılan kodlar kullanılarak gerçekleştirilmiştir. Üretilen verilerden parametre kestirimleri `sirt` paketi ve araştırmacı tarafından R 3.0 programı kullanılarak yazılan kodlar ile gerçekleştirilmiştir. Paralel, eşbiçimli ve konjenerik ölçme yapıları için farklı değişimleme ölçütlerine göre KR-20 ve Omega katsayılarının ortalama ve standart sapma değerleri hesaplanmıştır. Paralel, eş biçimli ve konjenerik ölçme yapılarında tek başına örneklem büyüklüğünün, katsayı ortalamaları ve standart sapmaları üzerinde belirgin bir etkisi görülmemiştir. Ancak madde sayısı ve faktör yükü düzeylerinin katsayı ortalamaları ve standart sapmaları üzerinde anlamlı değişikliklere neden olduğu gözlenmiştir.Paralel ölçme yapısında farklı madde sayılarında, farklı örneklem büyüklüklerinde ve farklı faktör yüklerinde elde edilen Omega ve KR-20 katsayı ortalamaları, eşbiçimli ve konjenerik ölçme yapılarında elde edilen katsayı ortalamalarına göre, beklenenin aksine, daha düşük çıkmıştır. Üretilen verilerin yapısı gereği ölçmelere karışan hata varyansları eşbiçimli ölçme yapılarında paralel ölçme yapılarına göre daha düşük olabilmektedir. Elde edilen bulgulardan yola çıkarak farklı ölçme yapılarında, madde uzunluğu örneklem büyüklüğü, faktör yüklerinin aynılığı gibi faktörlerden daha çok, ölçmeye karışacak hata miktarları hesaplanan katsayıları etkilemektedir sonucuna ulaşılabilir.
dc.description.abstractThe purpose of this study is the examination of KR-20 and Omega reliability coefficients which is used in factor analytical approach under the factors affecting reliability such as test length, sample size and factor loadings variance in parallel, tau-equivalent and congeneric measurement structures.In accordance with this purpose, data have been generated according to various factors (sample size, test length and factor loadings levels). 100 replications have been performed for each condition in the generated data. The data have been generated seperately in parallel, tau-equivalent and congeneric measurement structures in compliance with each cell consisted as a result of crossing the designated conditions. The data generation has been carried out by using the codes written by the researcher and the `psych` package in R 3.0 program. The parameter estimations generated from the data have been carried out with the codes written by using R 3.0 program by `sirt` package sofware and the researcher. The average and standart deviation values of KR-20 and Omega coefficients have been calculated according to different alternation criterias for parallel, tau-equivalent and congeneric measurement structures.No significant effect of sample size by itself on coefficient average and standart deviation in parallel, tau-equivalent and congeneric measurement structures has been found. However, it has been observed that the number of item and factor loading levels have caused significant changes on the coefficient average and standart deviation. The Omega and KR-20 coefficient averages obtained in different number of items, different sample sizes and different factor loadings in parallel measurement structure has been, contrary to expectations, found to be lower than the ones obtained in tau-equivalent and congeneric measurement structures.Due to the structure of the generated data, error variances mixing in measurement in the tau-equivalent measurement structures might be lower than the parallel measurement structures. Based on the findings obtained, it is possible to come to the conclusion that in different measurement sctructures, the amount of errors that will mix in the measurement, rather than the factors such as sample size or material lenght, affects the coefficients.Key Words: Congeneric Measurement Structure, Tau-Equivalent Measurement Structure, Omega Coefficient, Reliabilityen_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectEğitim ve Öğretimtr_TR
dc.subjectEducation and Trainingen_US
dc.titleKlasik test kuramına ve faktör analitik yaklaşıma göre elde edilen farklı güvenirlik katsayılarının karşılaştırılması
dc.title.alternativeComparison of the reliability co-efficients obtained according to classical test theory and factor analytic approach
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentEğitim Bilimleri Anabilim Dalı
dc.subject.ytmClassical Test Theory
dc.subject.ytmReliability
dc.subject.ytmTests
dc.subject.ytmMeasurement and evaluation
dc.identifier.yokid10087204
dc.publisher.instituteEğitim Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityMERSİN ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid439273
dc.description.pages92
dc.publisher.disciplineEğitimde Ölçme ve Değerlendirme Bilim Dalı


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess