Show simple item record

dc.contributor.advisorBaşdoğan, Çağatay
dc.contributor.advisorAlaca, Erdem
dc.contributor.advisorKiraz, Alper
dc.contributor.authorVarol, Aydin
dc.date.accessioned2020-12-08T08:13:13Z
dc.date.available2020-12-08T08:13:13Z
dc.date.submitted2007
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/170879
dc.description.abstractBu tezde, kalite faktörü (Q) kontrollü altında çalışan bir atomik kuvvetmikroskobunun (AKM) nano boyutlardaki bir yüzeyi taramasını SIMULINKsimülasyonları ile inceledik. Sadece tarama probunun dinamiğine değil, taramaişleminin bütünün simülasyonuna odaklandık. Bu sayede, Q kontrollü taramanın,değişik tarama değişkenleri ve ayarları için performansını sayısal olarak inceledik.İlk önce, probun etkin Q faktörünü ayarlamaktaki ödünleşmesini gösterdik. DüşükQ faktörü, prob ucu ile taranan yüzey arasındaki etkileşim kuvvetlerini artırırken,yüksek değerler tarama hızını sınırlandırmaktadır. Daha sonra, hata sinyaliningenliğine göre probun Q faktörünü anlık olarak değiştiren uyarlanabilir (adaptif)Q kontrolü kullanarak etkileşim kuvvetlerini artırmadan da daha yüksek taramahızlarına ulaşmanın mümkün olduğunu gösterdik. Adaptif Q kontrolü sayısalolarak hesaplanan eş hata çizgileri kullanılarak standart Q kontrolü ilekarşılaştırıldı ve sonuçlar deney düzeneğinde yapılan tarama deneyleriyledesteklendi.
dc.description.abstractIn this thesis, we investigate nano scanning in tapping mode atomic forcemicroscopy (AFM) under quality (Q) control via numerical simulations performedin SIMULINK. We focus on the simulation of whole scan process rather than theinteractions between the AFM probe and the surface only. This enables us toquantify the scan performance under Q control for different scan variables andsettings. We first demonstrate the trade-off in setting the effective Q factor (Qeff)of a cantilever probe in standard Q control. Low values of Qeff causes an increasein tapping forces while higher ones limit the maximum achievable scan speed dueto the slow response of the cantilever to the rapid changes in surface profile. Wethen show that it is possible to achieve higher scan speeds without causing anincrease in the tapping forces using adaptive Q control (AQC), in which the Qfactor of cantilever is changed instantaneously depending on the magnitude oferror signal in oscillation amplitude. The scan performance of AQC isquantitatively compared to that of standard Q control using iso-error curvesobtained through numerical simulations first and then validated through scanexperiments performed in a physical set-up.en_US
dc.languageEnglish
dc.language.isoen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectMakine Mühendisliğitr_TR
dc.subjectMechanical Engineeringen_US
dc.titleNumerical simulation of nano scanning in tapping mode afm under Q control
dc.title.alternativeNano boyutlardaki yüzeylerin Q kontrolü altında atomik kuvvet mikroskobu kullanarak taranmasının sayısal simülasyonu
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentMakine Mühendisliği Anabilim Dalı
dc.subject.ytmAtomic force microscope
dc.subject.ytmSimulation
dc.identifier.yokid9008871
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityKOÇ ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid200374
dc.description.pages59
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess