Show simple item record

dc.contributor.advisorBaşdoğan, Çağatay
dc.contributor.authorAytekin, Arda
dc.date.accessioned2020-12-08T07:51:10Z
dc.date.available2020-12-08T07:51:10Z
dc.date.submitted2013
dc.date.issued2018-08-06
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/168839
dc.description.abstractYüksek hızlardaki AKM taramalarında görüntü kalitesini artırmak için, LQG ve tekrarlı kontrolcü (TK) kullanan tümleşik bir yapı önerilmiştir. Önerilen LQG+TK tasarımında kullanılan kontrolcü değişkenlerinin, tarama hatasını en aza indirecek şekilde, en iyi değerlerini hesaplamak için, önce tarama işleminin bir MATLAB/Simulink modeli oluşturulmuş ve sonra bu model üzerinde genetik algoritmalar çalıştırılmıştır. Tasarımımızda kullandığımız LQG kontrolcü geleneksel PI kontrolcüsüne göre daha gürbüzdür ve daha iyi izleme başarımı sağlar. Ayrıca, bizim yaklaşımımızda, her tarama satırının profili sistemi bozucu bir etki olarak kabul edildiği için, önerilen LQG kontrolcüsü tarama profilindeki büyük değişimlerin geleneksel PI kontrolcüsüne göre daha iyi üstesinden gelir. Öte yandan TK, kontrolcü bant genişliğini artırarak izleme başarımını daha da iyileştirir. Simulasyon ve deneysel sonuçlarımız önerilen LQG+TK tasarımının daha önceki çalışmalarımızda kullanılan PI+TK yapısından daha iyi olduğunu gösteriyor.
dc.description.abstractIn order to improve the image quality at high scan speeds in AFM imaging, a combined controller architecture employing a linear quadratic Gaussian (LQG) controller and a repetitive controller (RC) is proposed. To calculate the optimal values of the parameters used in the proposed LQG+RC design minimizing the scan error, a Matlab/SIMULINK model of the whole scan process is developed first and then genetic algorithms are employed on the simulation model. In our design, the LQG controller provides more robustness and better tracking performance than a traditional PI controller used for the same purpose. Moreover, since the profile of a scan line is treated as a disturbance in our approach, the proposed LQG controller handles the large variations in scan profile better than the PI controller. The RC on the other hand extends the controller bandwidth and further improves the tracking performance. Our simulations and the experimental results show that the scan performance of the proposed LQG+RC design is better than that of the PI+RC design implemented in our earlier studies.en_US
dc.languageEnglish
dc.language.isoen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectBilgisayar Mühendisliği Bilimleri-Bilgisayar ve Kontroltr_TR
dc.subjectComputer Engineering and Computer Science and Controlen_US
dc.subjectMakine Mühendisliğitr_TR
dc.subjectMechanical Engineeringen_US
dc.subjectMekatronik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectMechatronics Engineeringen_US
dc.titleA combined LQG and repetitive controller for high performance AFM scanning
dc.title.alternativeYüksek başarımlı AKM taraması için tümleşik bir LQG ve tekrarlı kontrolcü
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2018-08-06
dc.contributor.departmentMakine Mühendisliği Anabilim Dalı
dc.subject.ytmAtomic force microscope
dc.subject.ytmSystem identification
dc.subject.ytmGenetic algorithms
dc.identifier.yokid458743
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityKOÇ ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid333181
dc.description.pages46
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess