Show simple item record

dc.contributor.advisorCoşkun, Burhan
dc.contributor.advisorAsar, Tarık
dc.contributor.authorYavuz, Tuğrul
dc.date.accessioned2020-12-08T07:44:39Z
dc.date.available2020-12-08T07:44:39Z
dc.date.submitted2019
dc.date.issued2019-10-25
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/168307
dc.description.abstractBu çalışmada, katkısız ZnO, % 0,5 Ag katkılı ZnO ile % 2 Ag katkılı ZnO ince filmler Sol-jel metoduyla Si alttaşlar üzerine oda sıcaklığında büyütüldü. Elde edilen ZnO ince filmlerin yapısal, elektriksel ve optiksel özelliklerine Ag katkısının etkisi araştırıldı. Numunelerin yüzey özelliği Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ile incelendi. AFM görüntüleri, ince filmlerin nanofiber yapıda olduğunu ve nanofiberlerin alttaşın üzerinde homojen bir şekilde depolandığını gösterdi. Büyütülen ince film numunelerinin elektriksel özelliklerinin incelenmesi amacıyla, Akım-Voltaj (I-V), Kapasitans-Voltaj (C-V) ve Akım-Zaman (I-t) ölçümleri farklı ışık şiddetleri altındaki aydınlatmalarda yapıldı ve numunelerin fotoiletken olduğu görüldü. Hazırlanan ince filmlerin UV ölçümleri yapılarak Geçirgenlik, Soğurma, Yansıma ve Yasak Enerji Aralığı (Eg) grafikleri çizildi. Her üç numunenin de görünür bölgede geçirgen özelliği, 400 nm dalga boyundan küçük dalga boylarında ise soğurma özelliği gösterdiği, yansıma sınırının nano yapıya bağlı olarak daha yüksek dalga boylarına kaydığı belirlendi. Numunelerin geçirgenliği, UV bölgede düşük, görünür bölgede ise % 78-88 Aralığında yüksek olduğu değerlendirildi.
dc.description.abstractIn this work, undoped ZnO, % 0,5 Ag doped ZnO and 2% Ag doped ZnO thin films deposited on Si substrates. Films were produced by Sol-Gel method at room temperature. Ag effect on structural, electrical and optical properties on ZnO thin films were studied. Surface properties of the samples were assessed by using Atomic Force Microscopy (AFM). AFM results revealed that thin films are in nanowire like structure that nanowires spread homogeneously on the substrate. To investigate the electrical properties of the produced thin films, Current – Voltage (I-V), Capacitance – Voltage (C-V), Current – Time (I-t) measurements were made in different illumination intensities. It was seen that samples show photoconductive properties. After the UV investigation of thin films, permittivity, absorbance, reflectivity and band gap energies were calculated. Each sample shows permittivity properties in the visible region; samples show absorption properties in the region where the applied wavelength is smaller than 400nm. Reflecting boundaries were shift to higher boundaries with increased dopant effect. The transmittance of samples was found low in the UV region, but it shows higher characteristics which is between %78 and %88 in the visible region.en_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleAg:ZnO fotosensörlerin üretilmesi ve elektriksel karakterizasyonu
dc.title.alternativeFabrication and electrical characterisation of Ag: ZnOphotosensors
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2019-10-25
dc.contributor.departmentFizik Anabilim Dalı
dc.identifier.yokid10278851
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityKIRKLARELİ ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid572316
dc.description.pages85
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess