Show simple item record

dc.contributor.advisorCoşkun, Burhan
dc.contributor.advisorKurban, Mustafa
dc.contributor.authorKara, Fatih
dc.date.accessioned2020-12-08T07:43:35Z
dc.date.available2020-12-08T07:43:35Z
dc.date.submitted2020
dc.date.issued2020-04-07
dc.identifier.urihttps://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/168191
dc.description.abstractBu çalışmada katkısız TiO2ve farklı oranlarda Fekatkılı (%1,%5, %10)TiO2 ince filmler Sol-jel tekniğiyle Silisyum (Si) alttaşlar üzerine oda sıcaklığında büyütüldü.Elde edilen TiO2 ince filmlerin yüzeysel, elektriksel ve optiksel özellikleri araştırıldı. Numunelerin yüzeysel özelliği Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ile incelendi. AFM yardımıyla ölçülen numunelerin yapısal özelliklerinin granüler yapıda olduğu ve alttaşın üzerinde homojen bir şekilde depolandığı görüldü. Büyütülen ince film numunelerinin elektriksel özelliklerinin incelenmesi amacıylaAkım- Voltaj (I-V), Kapasitans- Voltaj (C-V) ve Akım-Zaman (I-t) ölçümleri farklı ışık şiddetleri altındaki aydınlatmalarda yapıldı ve numunelerin doğrultucu özellik gösterdiği tespit edildi. Güneş ışığı altında fotodiyotların fotoakımının, artan ışık şiddeti ile arttığı ve ışık yok iken ilk değerine geri döndüğü tespit edildi. İnce filmlerin optik özellikleri UV-visspektrofotometrisi kullanılarak ölçülüp, bant aralığı enerjileri hesaplandı
dc.description.abstractWe have carried out the structural, electronic and optical properties of Iron (Fe)-doped TiO2 thin films by sol-gel technique. The results revealed that the thin films form in a granular structure where particle-like grains covers the surface. Photophysical features of the thin films were performed by UV-vis spectrometry. The optical band gap of undoped TiO2 thin film decreases from 3.17eV to 3.05eV with an increase in atomic ratios of Fe content, so the electron transfer is easier from the valence band to the conduction band. The current-voltage (I-V) and capacitance-voltage (C-V) characteristics of the undoped and Fe-doped TiO2 thin films were investigated under dark and various lighting intensities. Our results show that the photocurrentsincreased with increasing intensities of illumination. The photodiodes also show a decreasing capacitance with increasing frequency. From I-V and C-V plots, the photodiodes show rectifying properties and good photovoltaic behavior. Herein the results revealed that the produced new Fe-doped TiO2 thin film samples can be used for photodetector applications.en_US
dc.languageTurkish
dc.language.isotr
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 United Statestr_TR
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğitr_TR
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleFe katkılı tio2 ince filmlerin eldesi
dc.title.alternativeFabrication and optical properties of fe-doped tio2 thin films
dc.typemasterThesis
dc.date.updated2020-04-07
dc.contributor.departmentFizik Anabilim Dalı
dc.subject.ytmSemiconductor thin films
dc.identifier.yokid10322603
dc.publisher.instituteFen Bilimleri Enstitüsü
dc.publisher.universityKIRKLARELİ ÜNİVERSİTESİ
dc.identifier.thesisid618703
dc.description.pages77
dc.publisher.disciplineDiğer


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

info:eu-repo/semantics/openAccess
Except where otherwise noted, this item's license is described as info:eu-repo/semantics/openAccess