M tabakası x ışını üretim tesir kesitlerinin hesaplanması
- Global styles
- Apa
- Bibtex
- Chicago Fullnote
- Help
Abstract
Atom numarası 73 ⤠Z ⤠83 aralığındaki elementlerin toplam M tabakası Xışını üretim tesir kesitleri, 5.96 keV'lik uyarıcı fotonlarla deneysel olarak ölçüldü veteorik olarak hesaplandı.Tesir kesiti deneysel hesaplamalarında dedektör verimliliğini belirlemek için,atom numarası 13 ⤠Z ⤠23 arasındaki elementlerin K X ışınları ölçüldü veölçümlerden hesaplanan değerlere göre verim grafiği çizildi.Numuneleri uyarmak için, 100 mCi şiddetinde Fe-55 radyoizotop halkakaynağı ve numunelerden yayımlanan karakteristik X ışınlarını saymak için Si(Li)katı hal dedektörü kullanıldı.Elde edilen sonuçlar, diğer araştırmacılar tarafından hesaplanmış olan teorikve deneysel değerlerle karşılaştırıldı. Sonuç olarak, 5.96 keV'de M tabakası X ışınıtoplam üretim tesir kesitlerinin atom numarasının artmasına bağlı olarak arttığıgözlendi.Anahtar Kelimeler: Karakteristik X Işınları, Tesir Kesiti, XRF Tekniği Total M shell X ray production cross-sections (XRF) for elements in theatomic number 73 ⤠Z ⤠83 were experimentally measured and theoreticallycalculated at 5.96 keV incident photon energy.In order to determine the dedector efficiency, K X rays of Al, Si, P, S, K,Ca, Ti elements were measured and efficiency graphics were plotted.The samples were also irridiated by 100 mCi Fe-55 radioisotope annularsource. Characteristic X rays emitted from the sample were counted by a Si(Li)semiconductor dedector.The values measured were compared with experimental and theoretical values ofother researches.As a results, it was seemed that M shell pruduction cross-sections increasewith increasing atomic number at 5.96 keV excitation energy.Key Words: Characteristic X Rays, Cross Section, XRF Technique
Collections